主题:【求助】X射线荧光光谱仪的测试厚度问题

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hxing
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        大家好,对于薄膜样品,X射线荧光光谱仪的X射线能进入薄膜多厚呢,测试结果反映的是表面的信息呢,还是薄膜体层的信息呢。谢谢
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里海
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XRF_INFO
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楼主,你这个问题有点怪。如果你的镀层足够厚,X射线穿不透,结果肯定是镀层的。如果不够厚,穿透了,结果是镀层和基体的。
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zhaianguo
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你的问题就没答案或者说是假命题。X荧光光谱不是测薄膜样品,而是测样品的镀层厚度。首先得有基体吧,假设铁基,基体上有镀锌 有镀镍,那么仪器本身可以测样的内容是锌和镍的厚度。0.1mm可以达到。 请再求证!。。。
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ccc888
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同楼上


五层镀层。
分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
qcz9999
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hxing
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      谢谢大家都回复,由于我想测试 镀层(四元化合物)的各元素之间的组分比例,我想得到 镀层体内 的组分信息,我担心 X射线荧光光谱仪 只是获取 镀层 表面的 组分信息, 所以想问大家X射线荧光光谱仪的测试厚度这个问题。 我的 镀层厚度 在 2μm - 2.5 μm 之间,根据大家的 发言,这个厚度应该是 可以穿透的。
qianguiyun1
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houcaihong301
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hxing
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ljwht
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有人知道X荧光光谱对各类物质的有效测试厚度不?比如钢铁  玻璃 等
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