主题:背景扣除问题

浏览0 回复21 电梯直达
xin-2752640
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我使用的是斯派克的ICP-AES.在方法中,我已经把背景扣除了.可测过样品后,把样品的谙图调出来,发现样品的背景扣得很高,于是我从新把样品的背景扣了下.把背景的扣低了.再重新计算样品中铅的含量.这样行吗?是不是若在方法测量时扣完背景后,,软件就自动会把样品中的背景扣除了呢?对于样品中的背景就不能重扣呢?

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沉舟
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就是在标准化结束后,测完样品,再重新扣样品的谱线的背景
好像不可以吧,这样样品扣背景的位置和标准化时的位置不符。
muaiy520
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这是我在使用ICP过程中最难解决的问题,相信大家也有同样的感受吧?
jason
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尖儿
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我也曾经遇到这样的情况,但我那时没有处理数据的权利,只是报告了上级,后来就不了了之了,很希望哪个能解决此问题的专家现身说一说.
leven
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我使用的也是斯派克的,每一个样品发射的谱线都不同,怎么可能用一条背景做所有样品的北背景,每测试一个都要重新扣背景做重处理计算的。
0楼的有时间多交流啊!毕竟仪器是一样的啊
载水一舟
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我使用ICP时间不长,对于背景扣除也是苦恼万分。我用的是PE公司产品,对于试剂空白,背景和标样很标准,但试样空白就不老实了,该强的地方强度不强,不该强的地方,偏偏强度很大。样品更是如此,20来样品,若需每种都兼顾到,要扣很多的背景。此时,我应该怎样扣除呢?
老难人
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我也是同样的ICP,我以为应该可以的,在改变背景位置后,从新计算方法,比较前后标准的强度(背景校正强度),数值发生变化。再从新计算试样的值。应该合理的。只是这个背景扣除的部位有时比较“随意”,让人有点不放心。
风之灵
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原文由 cz_sem 发表:
就是在标准化结束后,测完样品,再重新扣样品的谱线的背景
好像不可以吧,这样样品扣背景的位置和标准化时的位置不符。


在SPECTRO的ICP中这样做是可以的,因为它是真正的全谱,但是前提是你测定时候选择了保存全谱。

一楼如果你的样品和标样的背景差别不大,这样做应该没有什么影响的,你对每条谱线设置的扣背景位置会自动应用到标样和同一谱线的其它样品。你最好是把样品和标样全部测完后把谱图放在一起看他们的背景差别大不大,如果差别太大,有可能你的标样基体匹配得不太好。

如果担心测试结果不准可用以下方法来检验:
1)如果有和试样基体相似的标样,可以直接与试样一起测试,看看测试结果与证书上的含量的偏差。
2)没有标样,可以采用加标回收的方法来验证。

其实你对软件或者仪器有疑问,完全可以直接打电话联系厂家的工程师不是更快吗?
囡囡0831
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我也很头疼啊 刚接触ICP 在图谱处理 判断方面 一点方向也没有  有哪位高人指教一下啊
cnw881
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关键是标样与样品的基体要一致,这样扣背景的结果才会一致
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