原文由 Michelle梦(v2657406) 发表:
一般来说AFM测到的原始数据raw data是Deflection (V)-Piezo displacement (nm)曲线。从这条曲线的constant compliance部分可以求出其斜率,即灵敏度(V/nm)。用这个斜率可以把电压的变化转换成探针悬臂的形变Zc,从而求出F(F=kc×Zc)。而Force-Separation曲线的separation=Zc+Piezo displacement。
一般的AFM自带软件都会自动将raw data转换成Force-separation曲线,但是其中的转换过程基本相同。需要注意的是灵敏度的计算非常关键。
原文由 Michelle梦(v2657406) 发表:
一般来说AFM测到的原始数据raw data是Deflection (V)-Piezo displacement (nm)曲线。从这条曲线的constant compliance部分可以求出其斜率,即灵敏度(V/nm)。用这个斜率可以把电压的变化转换成探针悬臂的形变Zc,从而求出F(F=kc×Zc)。而Force-Separation曲线的separation=Zc+Piezo displacement。
一般的AFM自带软件都会自动将raw data转换成Force-separation曲线,但是其中的转换过程基本相同。需要注意的是灵敏度的计算非常关键。
原文由 unht(unht) 发表:原文由 Michelle梦(v2657406) 发表:
一般来说AFM测到的原始数据raw data是Deflection (V)-Piezo displacement (nm)曲线。从这条曲线的constant compliance部分可以求出其斜率,即灵敏度(V/nm)。用这个斜率可以把电压的变化转换成探针悬臂的形变Zc,从而求出F(F=kc×Zc)。而Force-Separation曲线的separation=Zc+Piezo displacement。
一般的AFM自带软件都会自动将raw data转换成Force-separation曲线,但是其中的转换过程基本相同。需要注意的是灵敏度的计算非常关键。
这样子的转换可信度有多高啊,是不是只能同一台仪器做的只能自己跟自己比较