获得0积分，您同时完成了每日任务，有额外的积分奖励，请前往APP领取
立即前往
原文由 sky2400 发表:
我也是一知半解，就我知道的简单说说吧。
XRF是x射线荧光检测的方法，分WDXRF和EDXERF（谁来解释一下WD和ED的区别）。
所需样品需要均质，就是物理粉碎方法粉碎到最小的单位，而不破坏它的化学成分。均质材料（如一块塑料）直接测就行，非均质材料（如一块电路板）需要研磨再压片。所以说样品前处理不用ICP那么麻烦。相应的检测仪器只能检测总含量，就是说，Hg，Cd，Pb的检测不受影响，但Cr，Rr只能检测总量，而不管价态和实际化学组成，所以在这方面是无法替代ICP的。检测速度很快，十来分钟吧。操作也简单。检出线很低，几个ppm，并不是象某些人说的那么差，当然上限是有的，大约1000ppm。
目前欧洲的检测是XRF，ICP，UV几种方法相结合，抽查。我想XRF测HgCdPb合适，ICP测PBB/PBDE,UV分析六价Cr，都是可以定量分析的。
现在国内对XRF认识不够，不是其技术不行，而是没有推广开。抛砖引玉，期待大牛补充，我是新手，说得不对的地方请指证，多谢啦。
我的社区
签到
