主题:离子减薄和双喷减薄的样品在TEM有啥不一样吗?

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huang150429
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我今天做的样品是用离子减薄做的,在TEM下观察时,看到的薄区倒是不少,但是就是感觉不均匀,有的地方亮,有的地方黑,感觉就像用“爪子”抓出来的,而我以前用双喷做的样品,就不是这种现象,薄区比较均匀,这正常吗?另外,离子减薄的样品中有很多纺锤状的与基体衬度不一样的地方,这是不是离子减薄造成的原因啊,不太懂。。。。另外我想问一下,tem所带的能谱,分辨率多大啊?如果粒子的尺寸为几个纳米,能谱可以收集的到吗,打出的元素准确吗?
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原文由 huang150429 发表:

我今天做的样品是用离子减薄做的,在TEM下观察时,看到的薄区倒是不少,但是就是感觉不均匀,有的地方亮,有的地方黑,感觉就像用“爪子”抓出来的,而我以前用双喷做的样品,就不是这种现象,薄区比较均匀,这正常吗?另外,离子减薄的样品中有很多纺锤状的与基体衬度不一样的地方,这是不是离子减薄造成的原因啊,不太懂。。。。另外我想问一下,tem所带的能谱,分辨率多大啊?如果粒子的尺寸为几个纳米,能谱可以收集的到吗,打出的元素准确吗?

可能是由于减薄速度不一样造成的。
几个nm大的颗粒能够做能谱,但数据中有基体的成分。
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