紫外可见分光光度计(UV)

主题:【求助】傅里叶红外光谱测透射率 算禁带宽度

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zmus
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大家好,我最近想测半导体材料的禁带宽度,将薄膜长在石英片上,150nm左右。通过光谱吸收谱外推法。做了两次实验,
1、实验设备为 紫外可见分光光度计(Lambda 950),扫描范围为 250nm-2500nm,
通过测透过率,外推法测得禁带宽度。
2、实验设备为 傅里叶红外光谱仪(Nicolet 6700),扫描范围为 400nm-4000nm, 通过测透过率,外推法测得禁带宽度。
两次测试结果差异很大(如下面的图所示)。我想知道要测禁带宽度,这两个仪器都可以吗?第二个实验的波长范围包括第一个的,可以为什么差别这么大呢?我看文献里面都是用第一种实验做出来的。知道的,麻烦告诉一下,谢谢!
外推法:
吸收系数a = - 1/d ln(I/I0),单位为cm-1,d 为薄膜厚度, (I/I0) 为透过率。光学带隙,对于间接带隙材料可以从(αhν)exp(1/2)随hν 变化的关系曲线,将曲线的线性部分延长至(αhν)exp(1/2)=0得到;对于直接带隙材料可以从(αhν)exp(2)随hν 变化的关系曲线,将曲线的线性部分延长至(αhν)exp(2)=0得到
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luminescence
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半导体的禁带对应的是紫外光区,你怎么会想到用红外透过率去推算呢?难道是我孤陋寡闻?很想知道你从哪里学来的第二种方法。
zmus
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我就是不了解这两个实验的区别,几乎没做过光学实验。可是第二个实验中的波长不是包含第一种的?
luminescence
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青年,你有木有想过为啥文献都用第一种方法?你得了解这个实验的原理啊。提醒你一点:红外光有足够的能量将电子从价带激发到导带么?
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zmus
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谢谢了,搞明白了,波长单位一直搞错了,第二种实验横坐标是波数,我晕。
jieun330
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半导体也可能测定红外光谱仪器。 但是你选 Beamspliter:Solid Substrate,
检测器:PE-DLaTGS。
zmus
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好的,非常感谢大家,这个问题我一直想不明白,看了回复后就想通了。
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