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主题：[求助]美国产LECO 344红外碳硫仪中所谓"分析用谱线'是何物

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ypzl
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发表于：2006/06/04 13:24:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
悬赏金额：20积分 状态： 未解决
我们正在使用一台美国LECO 344红外碳硫分析仪,本人才疏学浅,愣是搞不清楚何为"分析用谱线",是所谓C.S的积分曲线(根据电脑输出绘制的峰值波形图)还是C.S的标准工作曲线(用不同C.S含量的标样分析绘制的曲线),请各位高手赐教!
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2006/6/4 14:18:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
抱歉，没接触过这个仪器，但是感觉第二种解释不正确．供参考．
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cxshouse
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2006/6/7 23:36:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ypzl 发表:
我们正在使用一台美国LECO 344红外碳硫分析仪,本人才疏学浅,愣是搞不清楚何为"分析用谱线",是所谓C.S的积分曲线(根据电脑输出绘制的峰值波形图)还是C.S的标准工作曲线(用不同C.S含量的标样分析绘制的曲线),请各位高手赐教!


我认为应该是标准工作曲线，在分析时，应该首先有标准曲线，才能分析。
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molybdenum
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2006/7/14 12:41:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ypzl 发表:
我们正在使用一台美国LECO 344红外碳硫分析仪,本人才疏学浅,愣是搞不清楚何为"分析用谱线",是所谓C.S的积分曲线(根据电脑输出绘制的峰值波形图)还是C.S的标准工作曲线(用不同C.S含量的标样分析绘制的曲线),请各位高手赐教!


本人没有用过这种仪器，但是根据俺对光谱分析的经验，分析用谱线应该是一次分析中用作基准的谱线，由于受基体或者杂质的干扰，C和S的红外谱可能生漂移，所以在分析待测样品前，一般要确定C和S的无干扰的谱线位置，即波长，然后据此位置来计算待测样品的C和S含量。不知道理解对不，我也希望高人指教一二。


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榕树下的常客
boywy000
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2006/7/15 8:34:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ypzl 发表:
我们正在使用一台美国LECO 344红外碳硫分析仪,本人才疏学浅,愣是搞不清楚何为"分析用谱线",是所谓C.S的积分曲线(根据电脑输出绘制的峰值波形图)还是C.S的标准工作曲线(用不同C.S含量的标样分析绘制的曲线),请各位高手赐教!

是第二种解释，我们公司有SC-432和SC-432DR两台，测试样品之前，首先需要用标准样品(碳含量或硫含量)，进行不同样品量的测量，绘制出覆盖自己样品含量范围的标准曲线，之后就可以进行正常分析了，如还有问题可以给我发站内短信或邮件～～
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tangldy
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2006/7/27 12:11:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
分析用谱线就是C.S的标准工作曲线(用不同C.S含量的标样分析绘制的曲线)，针对不同材料谱线形状和适用范围不同，C.S的积分曲线(根据电脑输出绘制的峰值波形图)只是仪器生产厂商表征元素吸收程度的一种表现形式，对于新的分析或者比较复杂的分析有一定用途，对于经常性分析一种材料的用户有些华而不实的味道。
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liuxinyuan2566
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2007/6/22 14:51:00 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
引用：“本人没有用过这种仪器，但是根据俺对光谱分析的经验，分析用谱线应该是一次分析中用作基准的谱线，由于受基体或者杂质的干扰，C和S的红外谱可能生漂移，所以在分析待测样品前，一般要确定C和S的无干扰的谱线位置，即波长，然后据此位置来计算待测样品的C和S含量。不知道理解对不，我也希望高人指教一二。”
如果这样理解是不是刚已开始分析时，仪器自己决定的一个功率基线啊？



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xiaoxueyan
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2012/6/15 13:48:03 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
应该是二氧化碳和二氧化硫的波长，仪器说明书中的原理部分应该写的有。我们的仪器碳和硫分析谱线分别在4.26微米和7.4微米。
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