主题:请教杂质分析的仪器选型?

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zgyzhj
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基体为钨(或钼),粉末样品及金属样品,杂质要做20个元素左右甚至更多,包括常见元素Si、Al、Fe等等,也包括一些其它的杂质元素,如As、Pb、Sb、Bi等等,杂质的含量(未稀释)变化范围大,从0.1ppm~几千ppm不等。不知道有什么仪器能够能做?这事让我头痛很久了,也许根本不可能用一台仪器解决所有的问题,但是我也是被逼的,企业的状况似乎不太可能同时添置几台仪器。
ICP-MS能做吗?Si是不是不好做?
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weiqiang
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xue1bo
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呵呵 用XRF X 射线荧光光谱可以做到PPM级别,非常准,对低于ppm的数据就难保证,做微量也不错的,很好的,我推荐。我认为是非常适合你的需要。
zgyzhj
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原文由 xue1bo 发表:
呵呵 用XRF X 射线荧光光谱可以做到PPM级别,非常准,对低于ppm的数据就难保证,做微量也不错的,很好的,我推荐。我认为是非常适合你的需要。

人个问题,我们现在需要做到0.1ppm级,而且希望今后做再低一些的,XRF进没办法的
pisces_fei
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