主题:【求助】ICP-MS中元素模式的选择

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yangchengh
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麻烦各位高手告知一下,经常在坛子里看见大家讨论ICP-MS的元素测量模式,氦气模式和冷焰模式的选择,我们用的是Varian820,一直没有这个选择,看了仪器介绍也说是Varian820检测器只有一种模式,不需要进行脉冲和模拟之间的校正,希望各位高手能告知氦气模式和冷焰模式是指检测器的模式还是别的什么,先谢了
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timstoicpms
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ICPMS的工作模式

①按射频发生器功率RF Power,可分为热焰(1000W以上)和冷焰(600W以下)。

对于常规测试,我们通常用热焰;在冷焰模式下,等离子焰温度不高,由于Li Na Mg  Al K Ca 第一电离能比较低,它们在冷焰模式下依然能有效电离;而以Ar为基体的多原子干扰产率则很低(例如40Ar16O干扰56Fe、40Ar35Cl干扰75As、40Ar38Ar干扰78Se、40Ar40Ar干扰80Se),因此半导体行业(单晶硅、多晶硅)经常用冷焰模式测定高纯材料中 极其微量的 Li Na Mg  Al K Ca 。

②按照碰撞反应池,可分为:标准模式(No gas,不通气体)、碰撞模式(通He气)、反应模式(通入H2、O2、NH3、CH4)

Varian使用的 ETP DM16型检测器是全数字量程,按说不需要做脉冲与模拟双模校正(Pulse-Analog Cross-Calibration)。但Varian检测器有 低、中、高、自动 四种衰减选项,要配A、B两种浓度的多元素溶液(并且B溶液浓度约是A溶液的50倍),让仪器知道该选择哪个衰减选项——很类似于P-A因子。

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2013/1/15 18:31:46 Last edit by timstoicpms
光哥
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检测器的工作模式和元素的测试模式是2个不同概念的。

820不是有碰撞反应接口(CRC)么?就是在采样锥还是截取锥来着,上面开个小孔,可通He、H2之类的。

我印象里Varian(现布鲁克)应该是不推荐(或者说米有?)冷焰的
timstoicpms
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原文由 光哥(xsh1234567) 发表:
820不是有碰撞反应接口(CRC)么?就是在采样锥还是截取锥来着,上面开个小孔,可通He、H2之类的。


采样锥和截取锥都开有狭缝,可通入He、H2,但用气量比较大:100ml/min以上。

通常是截取锥通气,因为两锥之间的接口压强相对小一些(相对采样锥口直面大气压强而言)

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yangchengh
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820不是有碰撞反应接口(CRC)么?就是在采样锥还是截取锥来着,上面开个小孔,可通He、H2之类的。


采样锥和截取锥都开有狭缝,可通入He、H2,但用气量比较大:100ml/min以上。

通常是截取锥通气,因为两锥之间的接口压强相对小一些(相对采样锥口直面大气压强而言)



谢谢大侠,非常感谢,学习了,呵呵
yangchengh
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ICPMS的工作模式

①按射频发生器功率RF Power,可分为热焰(1000W以上)和冷焰(600W以下)。

对于常规测试,我们通常用热焰;在冷焰模式下,等离子焰温度不高,由于Li Na Mg  Al K Ca 第一电离能比较低,它们在冷焰模式下依然能有效电离;而以Ar为基体的多原子干扰产率则很低(例如40Ar16O干扰56Fe、40Ar35Cl干扰75As、40Ar38Ar干扰78Se、40Ar40Ar干扰80Se),因此半导体行业(单晶硅、多晶硅)经常用冷焰模式测定高纯材料中 极其微量的 Li Na Mg  Al K Ca 。

②按照碰撞反应池,可分为:标准模式(No gas,不通气体)、碰撞模式(通He气)、反应模式(通入H2、O2、NH3、CH4)

Varian使用的 ETP DM16型检测器是全数字量程,按说不需要做脉冲与模拟双模校正(Pulse-Analog Cross-Calibration)。但Varian检测器有 低、中、高、自动 四种衰减选项,要配A、B两种浓度的多元素溶液(并且B溶液浓度约是A溶液的50倍),让仪器知道该选择哪个衰减选项——很类似于P-A因子。



非常专业的回答,非常感谢
yangchengh
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非常感谢各位,为我解决了这个问题,受益匪浅,太谢谢了
v2658860
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