主题:【求助】TXRF对中、轻质量数金属的探测极限

浏览0 回复6 电梯直达
光哥
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各位板油,请教个问题:TXRF(全反射X荧光光谱仪)对中、轻质量数的金属元素,探测极限有多少呢?例如对Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、Ti。。。基体为纯度为99.99997%左右的硅。

谢谢。

PS:版内搜索过了,没发现类似的数据。仪器那块也没发现。
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sonne86400
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光哥
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原文由 sonne86400(sonne86400) 发表:
这个你找全反射仪器厂家比较准确


只是为了想写个原创文章需要的数据,找厂家等下电话不断麻烦得要死。所以请板油帮忙下。即便是个大约值都行。
sweetapple986
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光哥
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原文由 sweetapple986(v2644276) 发表:
这个都ppb级别的了,AAS或者ICP才做得了吧。


是固体中ppbw级别的,AA和ICPOES不可能的。不过TXRF倒是无压力,只是不清楚到底到ppbw的哪里。
光谱分析仪Ryan
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哇,这个好深奥!!!
回答不了,但可以帮你顶起来
拳力向前
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德国布鲁克 S2 PICOFOX的工作原理是基于全反射X射线荧光光谱(TXRF)。采用风冷的钼(Mo)靶X射线光管产生初级X射线,通过多层膜单色器后形成一束能量范围很窄的单色光,以非常低的角度(< 0.1?)掠射装有样品的抛光载片,并被全反射。样品中元素发出的特征荧光被能量色散型探测器检测。因为探测器与样品的距离非常近,荧光产额非常高,而空气吸收非常低。
全反射X射线荧光光谱法与常规的X射线荧光光谱法主要的区别是,在全反射荧光光谱法中采用单色光和全反射光学元件,用全反射光束激发样品荧光,并减少样品基体的吸收和散射。其优点是: 显著增强荧光产额,极大地降低背景噪音,从而拥有更高的灵敏度,可以进行微量元素分析
主要用途:用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析,以及分析测试技术方法研究。能够迅速、准确分析从Al~U(除惰性气体及少部分元素外)的所有元素, 含量范围从1.0 ppb-100%。有需要更多资料,可电话18221083873 黄海晏
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