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X射线荧光光谱仪（XRF）

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主题：【讨论】关于样品被击穿的问题

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zhuchenhua

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发表于：2013/07/15 16:06:28 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

大家用XRF的时候有没有碰到过样品被击穿的问题啊？怎么解决的啊，我们想弄一块聚乙烯板垫在样品下面，可行吗？

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2013/7/15 19:35:57 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

你是指的射线穿透样品吧，轻基体的样品容易被穿透，尝试一下将样品厚度增加会不会好些呢

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zhuchenhua

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2013/7/15 19:44:59 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 里海(lihaijun) 发表:
你是指的射线穿透样品吧，轻基体的样品容易被穿透，尝试一下将样品厚度增加会不会好些呢

是啊，主要成分是有机物，好像特别容易被击穿。后来增加了压片时的用量，堆得跟座小山似的，还是不行，样品台上的元素（如镍）都被检出来了。估计这种基质光靠增加厚度可能不行！该怎么办呢？

还有就是，这样的话我的检测结果（如钙）还还准确吗？

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sonne86400

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2013/7/15 20:49:11 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

你的是波普的吧你压片压力多少吨的啊不行就用能谱试试看在不行就上ic p测试你的大致含量是多少呢你样品是粉末状的吗

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里海

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2013/7/16 10:09:03 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:
原文由 里海(lihaijun) 发表:
你是指的射线穿透样品吧，轻基体的样品容易被穿透，尝试一下将样品厚度增加会不会好些呢

是啊，主要成分是有机物，好像特别容易被击穿。后来增加了压片时的用量，堆得跟座小山似的，还是不行，样品台上的元素（如镍）都被检出来了。估计这种基质光靠增加厚度可能不行！该怎么办呢？

还有就是，这样的话我的检测结果（如钙）还还准确吗？

这个问题还真的不知道怎么处理呢，嘿嘿，要不给你出个馊主意，用你的样品加上点其他已知含量的东西，按比例混合均匀后在压片测量，最后折算样品的含量

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loaferfdu

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2013/7/16 12:30:47 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:

大家用XRF的时候有没有碰到过样品被击穿的问题啊？怎么解决的啊，我们想弄一块聚乙烯板垫在样品下面，可行吗？

垫东西的方法肯定不可行，那你测试的就不是原来的样品了，而是该样品和聚乙烯板的混合物。

其实不用做什么处理。因为XRF得到结果实质上都是比较得到的。只要你的标样材质、厚度和样品一致，定量的结果就没有什么问题。

轻基体对X射线的荧光吸收很弱，导致样品深处的原子信息也可以被探测到，但实际上由于激发X光通常都不是正入射的，检测器的窗口也不是正对着样品，实际测试到的试样空间犹如一个楔子，所谓的楔子效应（Wedge Effect）.
对这种问题，解决办法有两个：
（1）对有检量线的做法，保持标样和实际样品一致即可，反正是在作比较，楔子效应就会被消除；
（2）对于基本参数法的，理论上来说，计算模型应该考虑到此类情况，用户需要输入样品的厚度，以便软件按照内部的模型处理。

话说回来，样品太薄了肯定也不是什么好事情，这会导致信号太弱。建议叠厚处理。

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