主题:【求助】XRF融片用上表面测定

浏览0 回复14 电梯直达
164958362
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首先,要考虑的就像一楼所说,根本都不平整,测定值肯定受影响~
其次,考虑熔融样品冷却凝固的时候是否在上表面出现元素偏析之类问题。
huanggehuangge
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原文由 164958362(164958362) 发表:
首先,要考虑的就像一楼所说,根本都不平整,测定值肯定受影响~
其次,考虑熔融样品冷却凝固的时候是否在上表面出现元素偏析之类问题。


一。上表面确实不是平整的,是带一点弧度,(表面张力的原因嘛)这点弧度有影响?但是挺光滑的,下表面我怕会有坑洼点之类的产生影响

二。这个偏析我还真从没考虑过,样品看起来时融的不错的,很均匀,通透。
代宗师
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原文由 huanggehuangge(huanggehuangge) 发表:
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首先,要考虑的就像一楼所说,根本都不平整,测定值肯定受影响~
其次,考虑熔融样品冷却凝固的时候是否在上表面出现元素偏析之类问题。


一。上表面确实不是平整的,是带一点弧度,(表面张力的原因嘛)这点弧度有影响?但是挺光滑的,下表面我怕会有坑洼点之类的产生影响

二。这个偏析我还真从没考虑过,样品看起来时融的不错的,很均匀,通透。


只是光滑肯定不行啊,要求距离发射源的距离相等,不然你照射不同的地方测量结果都会有差别的。你实际测试过没有呢?
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我记得在某个帖子里说过,因为不是平整的,所以X射线反射光线不再是平行光,被放大了,或者说接收器接收到的x射线会减少,会造成误差。
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