主题：【讨论】对于SPARK-OES,如何推导BEC（背景等效浓度）与DL（检出限）之间的关系？

原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:
对于直读光谱而言，我觉得BEC和DL之间没有必然的推导关系
因为BEC是依赖与拟合曲线算出来的，而DL则不仅与曲线有关，还和纯基体样品测量结果有关，而纯基体样品的测量结果不是唯一的，所以两者之间，没有固定的数学关系式。

通常都是根据统计学规律，得出近似的数学关系式
比如ARL WinOE软件中给出的近似公式：DL=3*RSD*BEC，其中RSD为纯基体样品10次测量结果的相对标准偏差
我见过斯派克M10软件中，默认的设置是DL=BEC/30，当然这个数字是可以有专业的技术人员修改的

原文由 =牛魔王=(yonglinxu) 发表:

原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:
对于直读光谱而言，我觉得BEC和DL之间没有必然的推导关系
因为BEC是依赖与拟合曲线算出来的，而DL则不仅与曲线有关，还和纯基体样品测量结果有关，而纯基体样品的测量结果不是唯一的，所以两者之间，没有固定的数学关系式。

通常都是根据统计学规律，得出近似的数学关系式
比如ARL WinOE软件中给出的近似公式：DL=3*RSD*BEC，其中RSD为纯基体样品10次测量结果的相对标准偏差
我见过斯派克M10软件中，默认的设置是DL=BEC/30，当然这个数字是可以有专业的技术人员修改的

OE里公式的位置在何处啊　我深入看看的

原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:

原文由 =牛魔王=(yonglinxu) 发表:

原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:
对于直读光谱而言，我觉得BEC和DL之间没有必然的推导关系
因为BEC是依赖与拟合曲线算出来的，而DL则不仅与曲线有关，还和纯基体样品测量结果有关，而纯基体样品的测量结果不是唯一的，所以两者之间，没有固定的数学关系式。

通常都是根据统计学规律，得出近似的数学关系式
比如ARL WinOE软件中给出的近似公式：DL=3*RSD*BEC，其中RSD为纯基体样品10次测量结果的相对标准偏差
我见过斯派克M10软件中，默认的设置是DL=BEC/30，当然这个数字是可以有专业的技术人员修改的

OE里公式的位置在何处啊　我深入看看的

WinOE软件3644CONF配置文件第十章 Definition of the BEC and DL(第323页)

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原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:
对于直读光谱而言，我觉得BEC和DL之间没有必然的推导关系
因为BEC是依赖与拟合曲线算出来的，而DL则不仅与曲线有关，还和纯基体样品测量结果有关，而纯基体样品的测量结果不是唯一的，所以两者之间，没有固定的数学关系式。

通常都是根据统计学规律，得出近似的数学关系式
比如ARL WinOE软件中给出的近似公式：DL=3*RSD*BEC，其中RSD为纯基体样品10次测量结果的相对标准偏差
我见过斯派克M10软件中，默认的设置是DL=BEC/30，当然这个数字是可以有专业的技术人员修改的

OE里公式的位置在何处啊　我深入看看的

WinOE软件3644CONF配置文件第十章 Definition of the BEC and DL(第323页)

d找了　没找到

原文由 老头(shguan) 发表:
BEC的意义不能搞错了。上面的公式怎么说呢？！！
如果单单从数学考虑没问题。可是BEC实际的应用上面的公式不好了。真正应用可能都是一次方程考虑吧。或者用切线方程式考虑。先开个头。有机会慢慢讨论吧。BEC是非常重要的参数。用的人说没有实际应用价值（包括另外的所谓专家）。我认为不是这样。非常非常有用的。老头