后续将有专属客服与您沟通!
关注微信公众号查看留言进度 接收留言处理通知
0
ID:zhangxueao
行业:其他
积分:0升级还需100积分
声望:0升级还需100声望
注册时间:0000-00-00
最后登录时间:0000-00-00
请确认联系方式
请输入您的联系方式
提交留言即视为您同意遵守 《服务协议》和 《隐私权政策》
ID:ustb
原文由 zhangxueao 发表:知道ustb是做介孔材料的专家,特请教几个问题。由于课题需要我开始捣鼓介孔材料,合成的主要有MCM-41、SBA-11以及SBA-15。开始的时候我一直做介孔薄膜,摸索出了一些XRD和TEM的测试手段。但最近开始做它们的粉体材料,以前没有尝试过,不知道它们的测试有什么特别要求,关键是制备样品,是不是TEM和XRD都需要把粉体研磨成微小粒子,再进行测试。谢谢!
ID:shxie
原文由 ustb 发表:专家谈不上,做介孔材料shxie经验比我丰富。如果是粉末样品,颗粒尺寸不是太大,直接拿去做XRD就可以了。做TEM要先在研钵中研磨一下,你可以直接干磨,也可以加酒精研磨,然后滴在微栅上,放到电镜中观察。
原文由 zhangxueao 发表:非常感谢ustb和shxie两位的解答。感谢之至!
原文由 shxie 发表:不客气,顺便说一下,看介孔材料因为要用弱光,如果想要看2-3nm的孔道,眼睛需要通过体视显微镜观察,对眼睛不利,建议每30min休息一下。
ID:wiley
原文由 wiley 发表: ,我也要开始学习做介孔材料的表征,以前都是做的纳米颗粒,两个东西可能还不太一样呢?到时还要向几位专家请教。
原文由 wiley 发表:嗯,我才刚开始做,想要做PMO,但是现在的XRD表征表明只是在2点几度的地方有衍射峰出现,所以可能结构还不是很有序。也不知道是什么原因?一般出现这种情况的原因是什么呢?
ID:weiy