主题:谱线干扰的原因及讨论

浏览0 回复15 电梯直达
天枫
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由于在使用EDXRF时,常常会遇到有些测试值异常偏大,这些很多时候都是因为元素之间的谱线干扰而造成的。在这里想和大家讨论一下谱线干扰的排除方法。

1、谱线干扰:
      由于谱线靠近导致谱线部分重叠,或者来自不同衍射线之间的干扰,以及检测器材料的特殊X射线的谱线干扰,造成该元素在谱线重叠区域内的高计数率之误差。

2、谱线干扰的种类:
  A、在K系特征谱线中,Z元素的Kb线又是与Z+1,Z+2,Z+3元素的Ka线靠近,导致谱线干扰。如Cd(48)的Kb线(26.1Kev)与Sb(51)的Ka线(26.3Kev)靠近;
    B、还有来自不同衍射级次的衍射线之间的干扰。如第原子序数元素的Ka/Kb与高原子序数元素的La/Lb/Lr线靠近,导致谱线干扰。如As(33)的Ka线(10.53Kev)与Pb(82)的La线(10.55Kev)靠近;
    C、和峰和逃逸峰引起谱线部分重叠,导致谱线干扰。如FeESC与PbLb部分重叠。


那么我们需要怎样排除这些干扰而得到比较准确的测试结果呢?

请大家发表你的意见,多多回复。
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天枫
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请大家详细说一下你们所遇到的问题点和解决方法。随意发表一下你们的想法吧。
天枫
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这里的和峰 和逃逸峰的干扰我不是太了解,这个是怎么判定的,各位高手们可以告诉我吗?
butterfly
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我也感觉很奇怪,最近我们做的一个ROHS的样,检测出Pb的量为几千个ppm,但做化学测试是Pb的量为几十个ppm,当然我们也分析了数据认为是Br的量过高(达到几万个ppm),但是对于干扰的问题却没有一个明确的定量(即:不知道Br的量达到多少时对Pb有多少影响啊!!!)不知道各位大虾再遇到这个问题时是怎么解决的?????请大家多多指教!!!!!!!!!
pachyrhizus
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这些干扰是测试原理上的局限,我觉得提高计数器的分辨率会有改善,但在这方面技术还没有达到的时候,也只能去尽量避开干扰峰(通常这种做法会损失精度),避不开的就只能唤起他方法了。
天枫
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请问楼上的朋友,你是运用什么方法来消除这些干扰的呢?可否详细点说明。
pachyrhizus
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原文由 thunder_pk 发表:
请问楼上的朋友,你是运用什么方法来消除这些干扰的呢?可否详细点说明。

这个你之前也提过啊,更换检量线,我通常在不得已的情况下用这个。
天枫
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哦,是这样啊。那么你还试过用其它方法来消除干扰吗?
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seayoung
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非常好的帖子阿,和我们的应用切切相关,不过还是请大虾们说的详细点,我市刚开始做这个的,有些不是很明白,谢谢了!
busyren
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有的仪器提供几个靶,通常是用RH靶,测量氯等元素时,RhL系线有干扰,可选Ag靶.还有些用封闭正比计数管时,如分析原子序数小于27元素时用铜靶,大于27的用钼靶等.
长用的使用滤光片来消除或者降低原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰,可改善峰背比,提高灵敏度.比如测水溶液中的砷时,用Ni滤光片检测限从2PPM提高到0.9PPM;测镉一般用锆滤光片;测11-20号元素,一般用3微米锡滤光片;如单测S元素,可以用Ti滤光片Ti不仅能将大于Ti吸收限能量的原级谱衰减,降低背景,而且用TiKα线激发S更有效.
天枫
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楼上的朋友,请问你说的“靶”是什么?和“滤光片”有什么关系吗?可以说详细点吗?我现在所用的靶好像都是Rh。
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