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主题：怎么能得知仪器本身的半高宽

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rubyzsq
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发表于：2006/08/14 08:55:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用谢了公式计算晶粒尺寸时，衍射峰的半高宽要扣除仪器本身的宽化，可是不知道怎样能得到仪器本身的半高宽，我在论坛里也看到了一些说法，其中有谈到：仪器本身半高宽与衍射角的位置也有关系，不同的衍射角对应的仪器本身的半高宽数据也不同，因此仪器本身的半高宽与衍射角的关系是一条曲线。怎么能得到这条曲线呢，要用什么标样测呢，改怎么测呢，希望大侠们赐教！
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2006/8/14 13:21:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
一般用Si标吧，不过一般得到的数据已经扣除了

原文由 rubyzsq 发表:
用谢了公式计算晶粒尺寸时，衍射峰的半高宽要扣除仪器本身的宽化，可是不知道怎样能得到仪器本身的半高宽，我在论坛里也看到了一些说法，其中有谈到：仪器本身半高宽与衍射角的位置也有关系，不同的衍射角对应的仪器本身的半高宽数据也不同，因此仪器本身的半高宽与衍射角的关系是一条曲线。怎么能得到这条曲线呢，要用什么标样测呢，改怎么测呢，希望大侠们赐教！
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huangjw
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2006/8/15 23:44:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
在测量样品前，先测量一个硅样品的谱，用样品的宽减去硅样的宽。复杂一点的是平方差开方。
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rubyzsq
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2006/8/16 10:14:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 huangjw 发表:
在测量样品前，先测量一个硅样品的谱，用样品的宽减去硅样的宽。复杂一点的是平方差开方。

谢谢版主，还有一点不明白，选择硅样品的哪个衍射峰的半高宽来减呢？不同的峰的宽是不一样的啊
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huangjw
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2006/8/19 14:26:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
样品峰附近的峰。既然选择硅作标样，就没有考虑不同晶面峰宽不同的问题了，如果要考虑进去，就不能用硅标样，而要用待测样品本身（退火态、粗晶粒）作标样。如测铜，就要用退火铜作标样。
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rubyzsq
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2006/8/21 8:06:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 huangjw 发表:
样品峰附近的峰。既然选择硅作标样，就没有考虑不同晶面峰宽不同的问题了，如果要考虑进去，就不能用硅标样，而要用待测样品本身（退火态、粗晶粒）作标样。如测铜，就要用退火铜作标样。

哦，是这样啊，明白了，太谢谢版主了
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kong1
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2014/10/11 9:49:07 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问做标样的硅要不要经过退火处理，如果要的话退火温度是控制在多少
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