主题:请问:玻璃基片上ZnO:AL薄膜的xrd图中,一般文献说衍射峰在34.4度,为什么我测的是33度左右.哪位知道原因?

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yufen
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请问:玻璃基片上ZnO:AL薄膜的xrd图中,一般文献说衍射峰在34.4度,为什么我测的是33度左右.哪位知道原因?
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typhone
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这个问题比较复杂,产生峰位偏移的原因比较多,你可以根据你的样品制备工艺,结合测试仪器等相关因素才能做出准确的判断。
yufen
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jad
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有可能是宏观残余应力造成的,衍射峰偏小说明晶格常数大于粉末材料的,可能有残余压应力存在,但这个角度差的比较多,其他的影响因素大家一起分析下
XRD
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衍射峰位向低角度偏移的原因很多。
一是仪器本身有0位误差
二是样品表面不平,有轴向误差
三是样品的晶胞参数比人家的大
四是残余应力的存在
不过,你说的这个误差也大了点,衍射角都差了1.5度。Δd/d=3.6%了。
yufen
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俺测量的衍射角度都有32.7度的呢.不过是掺铝以后的氧化锌薄膜.有文献说掺杂后的氧化锌薄膜c轴方向有张应力,怎么又成压应力了?这个角度是从原始数据测得的,没有经过拟合,难得拟合后测量数据会变化?
XRD
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在讨论这个问题之前,我建议你先测量一个粗硅(必须是去应力退火后)粉样,否则的话,仪器误差干扰你,弄得你没办法分析。
hissa
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原文由 yufen 发表:
请问:玻璃基片上ZnO:AL薄膜的xrd图中,一般文献说衍射峰在34.4度,为什么我测的是33度左右.哪位知道原因?

1,你测过衬底的XRD么?
2,在别的基片,比如Si/Al2O3上面生长的ZnO,你测过么?
3,undoped的ZnO呢?
yufen
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不好意思没有测过但是想过.后面决定测量这些,看来是一路人啊 希望得到你的帮助.
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