主题:交流阻抗技术应用于电容型传感

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fiyer
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在构建电容传感器时,敏感层的绝缘度非常重要,而EIS是分析界面性质的一种重要工具,一般可通过bode图来分析膜的绝缘程度。同时,阻抗-时间法可应用于测定系统的电容值。
不知道这里有没有研究电容传感器的同仁,如果有的话,大家不妨将自己在实验中使用EIS所积累的经验和碰到的问题在这里说说,共同进步
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fiyer
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在用阻抗-时间法测定时,大家的工作频率是怎么选取的?
我看了一些文献,有的是直接用仪器初始的频率,一般是1000Hz
有的是选取相角达到最大(80度以上)走平后的频率,有文献选取的工作频率大概是几十个赫兹
你怎么选的呢?
fiyer
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使用EIS来测定系统的电容一般是基于公式:C=-1/(2f*Z*pi)
Z是虚部阻抗,关于f值,我查阅书籍给出的解释是半圆最高点所对应的频率,一直不知道这个最高点对应的频率如何选择,因为有时候我表征的修饰电极的Nyquist图中,并没有得到半圆,而是一条直线(阻抗值达到10的五次方欧姆,裸电极只有100多欧姆),而从CV和bode可以看出,修饰层的绝缘性应该是比较好的(CV无峰,背景电流很小;bode中相角在80度左右,阻抗与频率的直线接近-1)
欢迎高手指教
old fox
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不知各位的传感器都工作在什么模式下?
是constant capacitance mode吗?
relaxchair
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只有constant phase element, 没有constant capacitance mode的吧?
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