原文由 老头(shguan) 发表:原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:
在国外的文献上看到过另外一种方法,通过“fixation pairs”来监控
也就是选择两条谱线,其强度比会随着光源能量的改变而产生很大的变化,通常选择基体元素的一条原子线和另一条离子线,比如Fe 360.8nm和Fe 273.0nm
这种方法貌似更专业些,但在商品化的直读光谱仪中,我还没见过哪个厂家采用这样的方法来监控光源的稳定性。
你说的是ICP吧!
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在国外的文献上看到过另外一种方法,通过“fixation pairs”来监控
也就是选择两条谱线,其强度比会随着光源能量的改变而产生很大的变化,通常选择基体元素的一条原子线和另一条离子线,比如Fe 360.8nm和Fe 273.0nm
这种方法貌似更专业些,但在商品化的直读光谱仪中,我还没见过哪个厂家采用这样的方法来监控光源的稳定性。
你说的是ICP吧!
那个资料上讲的是火花直读光谱仪
不过我个人觉得这种方法更适合用于CCD检测器的直读光谱仪,毕竟额外增加一个PMT用于监控,得不偿失啊
当然,这种方法应该也是可以应用于ICP的
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在国外的文献上看到过另外一种方法,通过“fixation pairs”来监控
也就是选择两条谱线,其强度比会随着光源能量的改变而产生很大的变化,通常选择基体元素的一条原子线和另一条离子线,比如Fe 360.8nm和Fe 273.0nm
这种方法貌似更专业些,但在商品化的直读光谱仪中,我还没见过哪个厂家采用这样的方法来监控光源的稳定性。
你说的是ICP吧!
那个资料上讲的是火花直读光谱仪
不过我个人觉得这种方法更适合用于CCD检测器的直读光谱仪,毕竟额外增加一个PMT用于监控,得不偿失啊
当然,这种方法应该也是可以应用于ICP的
你有机会试试看!这种方法在CCD、CID和baird的仪器上就好实现了。主要用光强实验!!别用含量实验!应当带内标好。真实。我还没有深入理解。老头
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在国外的文献上看到过另外一种方法,通过“fixation pairs”来监控
也就是选择两条谱线,其强度比会随着光源能量的改变而产生很大的变化,通常选择基体元素的一条原子线和另一条离子线,比如Fe 360.8nm和Fe 273.0nm
这种方法貌似更专业些,但在商品化的直读光谱仪中,我还没见过哪个厂家采用这样的方法来监控光源的稳定性。
你说的是ICP吧!
那个资料上讲的是火花直读光谱仪
不过我个人觉得这种方法更适合用于CCD检测器的直读光谱仪,毕竟额外增加一个PMT用于监控,得不偿失啊
当然,这种方法应该也是可以应用于ICP的
你有机会试试看!这种方法在CCD、CID和baird的仪器上就好实现了。主要用光强实验!!别用含量实验!应当带内标好。真实。我还没有深入理解。老头
目前我也不具备做这个实验的条件啊,要是能有台CCD仪器的话,做这个实验就方便多了