主题：【讨论】ICP-MS也有SCAN和SIM两种模式？

估计人家也是别的地方照搬过来了。

现在起草国标的专家，有几个还在一线做实验？要么是闭门造车，要么是天下文章一大抄。

下面这些图是 Agilent 7700 G7200B老版本软件截图，可以形象地看到峰型 (Peak Shape) 类似正态分布。

1个点，用于 Time Resolved Analysis 时间分辨分析，多用于激光剥蚀、液相联用这类瞬时信号分析


3个点，全定量分析


6个点，半定量分析


20个点，就是全扫描


Agilent 7700 G7201A/B版软件截图（峰型可选择1、3、6、20个点），就不那么直观了


对于ICP-MS而言，待测核素的精确质量（107.905 amu）与整数名义质量（例如107Ag，有47个质子，60个中子）有细微差别。这是因为质子中子聚合时形成原子核时，发生了质量亏损mass defect（爱因斯坦质能方程 E=m×c^2 ）。纵观所有核素，可以发现：轻质量、重质量核素的精确质量（xx.95~xx.99）与整数名义质量差别较小，中质量核素（90-140 amu）的精确质量（xx.90）与整数名义质量差别最大。所以 ICP-MS质量轴 实际定位在xx.00±0.05 均可。

ICP-MS的峰宽 peak width 只要<1amu即可——能区分相邻两个峰即可，例如分开6Li和7Li，88Sr和89Y，205Tl和206Pb
【10%峰高所对应的峰宽】通常< 0.8 amu，就能应对各种常规测试。

ICP-MS 测试时，有跳峰(peak-jump)和扫描(scan)两种方式。有人认为：ICP-MS 扫描是定性/半定量、跳峰是定量，这是把气质液质的概念套用到ICP-MS无机元素上，完全是误读。因为气质液质的化合物精确质量与整数名义质量差别很大（例如101.45amu、174.21amu）：精确质量数对应化合物（定性），峰高对应浓度（定量）——这有点类似 ICP-OES：波长确定元素（定性），峰高对应浓度（定量）。

早期 ICP-MS有 Selection Ion Monitoring 和 Scanning 两种模式（例如 EPA 200.8 提到的 VG ICP-MS）。我个人认为 Selection Ion Monitoring Mode 是指峰型最高的1个点；Scanning Mode是指20个点，从  M-1质量数的xx.65到M质量数的xx.40 amu这段。用纯水或2%稀硝酸做检出限时，有限的积分时间从1个点 分摊到20个点，每个点分得的时间短，每个点捕获到的计数较少且波动较大，导致空白信号3SD较大。所以Scanning模式的检出限就比Selection Ion Monitoring模式差一些。

原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:
现在起草国标的专家，有几个还在一线做实验？要么是闭门造车，要么是天下文章一大抄。

下面这些图是 Agilent 7700 G7200B老版本软件截图，可以形象地看到峰型 (Peak Shape) 类似正态分布。

1个点，用于 Time Resolved Analysis 时间分辨分析，多用于激光剥蚀、液相联用这类瞬时信号分析


3个点，全定量分析


6个点，半定量分析


20个点，就是全扫描


Agilent 7700 G7201A/B版软件截图（峰型可选择1、3、6、20个点），就不那么直观了


对于ICP-MS而言，待测核素的精确质量（107.905 amu）与整数名义质量（例如107Ag，有47个质子，60个中子）有细微差别。这是因为质子中子聚合时形成原子核时，发生了质量亏损mass defect（爱因斯坦质能方程 E=m×c^2 ）。纵观所有核素，可以发现：轻质量、重质量核素的精确质量（xx.95~xx.99）与整数名义质量差别较小，中质量核素（90-140 amu）的精确质量（xx.90）与整数名义质量差别最大。所以 ICP-MS质量轴 实际定位在xx.00±0.05 均可。

ICP-MS的峰宽 peak width 只要<1amu即可——能区分相邻两个峰即可，例如分开6Li和7Li，88Sr和89Y，205Tl和206Pb
【10%峰高所对应的峰宽】通常< 0.8 amu，就能应对各种常规测试。

ICP-MS 测试时，有跳峰(peak-jump)和扫描(scan)两种方式。有人认为：ICP-MS 扫描是定性/半定量、跳峰是定量，这是把气质液质的概念套用到ICP-MS无机元素上，完全是误读。因为气质液质的化合物精确质量与整数名义质量差别很大（例如101.45amu、174.21amu）：精确质量数对应化合物（定性），峰高对应浓度（定量）——这有点类似 ICP-OES：波长确定元素（定性），峰高对应浓度（定量）。

早期 ICP-MS有 Selection Ion Monitoring 和 Scanning 两种模式（例如 EPA 200.8 提到的 VG ICP-MS）。我个人认为 Selection Ion Monitoring Mode 是指峰型最高的1个点；Scanning Mode是指20个点，从  M-1质量数的xx.65到M质量数的xx.40 amu这段。用纯水或2%稀硝酸做检出限时，有限的积分时间从1个点 分摊到20个点，每个点分得的时间短，每个点捕获到的计数较少且波动较大，导致空白信号3SD较大。所以Scanning模式的检出限就比Selection Ion Monitoring模式差一些。

专家！学习了！

仔细看了一下Varian 820 ICP-MS的扫描模式，有三种，full mass sncan, segmented scan, peak hopping，看来得询问仪器公司了，可惜现在varian被Bruker收购了。

原文由 poursuivre(shagege) 发表:
仔细看了一下Varian 820 ICP-MS的扫描模式，有三种，full mass sncan, segmented scan, peak hopping，看来得询问仪器公司了，可惜现在varian被Bruker收购了。

个人理解，你这对应的就应该是全谱扫描、隔峰扫描、跳峰扫描，隔峰扫描应该是半定量的，跳峰扫描应该是定量的！你们最常用的应该是peak hopping模式吧！

原文由 阶前尘(jieqian1211) 发表:

原文由 poursuivre(shagege) 发表:
仔细看了一下Varian 820 ICP-MS的扫描模式，有三种，full mass sncan, segmented scan, peak hopping，看来得询问仪器公司了，可惜现在varian被Bruker收购了。

个人理解，你这对应的就应该是全谱扫描、隔峰扫描、跳峰扫描，隔峰扫描应该是半定量的，跳峰扫描应该是定量的！你们最常用的应该是peak hopping模式吧！

我的理解跟你差不多。Full Mass Scan 是把所有质量数都扫一遍（每个质量数20个点）。即便有的质量数上不存在元素（例如 3、5、8 amu质量数，210-230 amu质量数都不存在元素），照样扫一遍。



Segmented Scan 是在 有元素存在的质量数上扫一遍（每个质量数6个点）。




Peak hopping 应该就是取质量峰最高点（每个质量数1个点）。

没错！

其他没尝试过。下来试试，呵呵。

按说全峰应该比其他两个更准确啊，越发迷惑了。

原文由 poursuivre(shagege) 发表:
没错！
其他没尝试过。下来试试，呵呵。
按说全峰应该比其他两个更准确啊，越发迷惑了。

全质量扫描浪费时间啊！

原文由 poursuivre(shagege) 发表:
没错！

其他没尝试过。下来试试，呵呵。

按说全峰应该比其他两个更准确啊，越发迷惑了。

不单浪费时间还损耗检测器呢！