原文由 wangfeidown 发表:
自吸现象在高浓度的分析元素溶液中容易发生。这是由于等离子体具有一定的环形电流面积,其中心温度要高于边缘的温度,中心温度高激发态原子或离子浓度高;边缘温度低,基态与较低能级的原子或离子较多,当激发态返回至基态时在温度高处发射某一波长的辐射,被处在边缘低温状态的同种基态原子所吸收造成发射谱线强度的降低形成自吸;当高浓度的分析元素溶液气溶胶通过等离子体的中心通道时而被激发,由于过多基态原子或离子的存在使激发态原子或离子造成“饱和”现象而不被激发,当激发态跃迁至低能级时发射的某一特征波长的辐射被基态所吸收,同样使发射强度减弱形成自吸,标准工作曲线应是偏向X轴。自吸现象在元素低浓度时不易发生,自吸现象随元素浓度的增加而增强,当达到一定值时,发射谱线的中心完全被吸收出现如同两谱峰并列形成“自蚀”,自吸现象在共振线中表现最为严重。看了你的元素浓度发生自吸-->自蚀的可能性较小,RF=1150;Neb.=26PSI;Aux.=??(1.0?0.5?);Pump=100r;已经适用于除碱(土)金属的其它元素分析要求,在溶液浓度正确的条件下可以适当增加激发功率及适当的降低雾化压力以提高中心通道温度。推荐一下这些元素的谱线:Cr2677;Cu3247;Ba4554;Mn2605;Ni2316;Zn2138,在ICP中选择谱线时在保证灵敏度的前提下就首先考虑选择离子线。Vis Range时间为多长?拍一张Mo--10ug/ml标准溶液的谱图传上来看看。
原文由 wangfeidown 发表:
自吸现象在高浓度的分析元素溶液中容易发生。这是由于等离子体具有一定的环形电流面积,其中心温度要高于边缘的温度,中心温度高激发态原子或离子浓度高;边缘温度低,基态与较低能级的原子或离子较多,当激发态返回至基态时在温度高处发射某一波长的辐射,被处在边缘低温状态的同种基态原子所吸收造成发射谱线强度的降低形成自吸;当高浓度的分析元素溶液气溶胶通过等离子体的中心通道时而被激发,由于过多基态原子或离子的存在使激发态原子或离子造成“饱和”现象而不被激发,当激发态跃迁至低能级时发射的某一特征波长的辐射被基态所吸收,同样使发射强度减弱形成自吸,标准工作曲线应是偏向X轴。自吸现象在元素低浓度时不易发生,自吸现象随元素浓度的增加而增强,当达到一定值时,发射谱线的中心完全被吸收出现如同两谱峰并列形成“自蚀”,自吸现象在共振线中表现最为严重。看了你的元素浓度发生自吸-->自蚀的可能性较小,RF=1150;Neb.=26PSI;Aux.=??(1.0?0.5?);Pump=100r;已经适用于除碱(土)金属的其它元素分析要求,在溶液浓度正确的条件下可以适当增加激发功率及适当的降低雾化压力以提高中心通道温度。推荐一下这些元素的谱线:Cr2677;Cu3247;Ba4554;Mn2605;Ni2316;Zn2138,在ICP中选择谱线时在保证灵敏度的前提下就首先考虑选择离子线。Vis Range时间为多长?拍一张Mo--10ug/ml标准溶液的谱图传上来看看。