主题:【原创】对EDS元素定量分析的一些认识

浏览0 回复8 电梯直达
uno680713
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今天第一次进入这个论坛,也发现了一些很有意义的帖子。我也对自己相对熟悉点的领域写了几个帖子,与大家分享。
对任何分析仪器来说,定性问题容易解决,但遇到定量化问题,事情就变得异常复杂。EDS定量分析在目前也是个很有挑战性的问题,主要原因是目前EDS定量化理论就不完善,并且EDS定量化涉及到众多因素的影响。EDS的定量化目前主要还是以Cliff-Lorimer K因子为基础,但K因子不是常数,它和样品,电镜以及EDS探测器都有关系。样品包括样品成份,测量点的样品厚度等。电镜则包括加速电压,样品在电镜中的位置(主要是考虑减小x光的吸收以及减小二次荧光等)。EDS探测器的影响更大,其作用可以用探测器效率来表示,包括固体收集角(solid collection angle,角度越大则探测器效率越高),取出(take-off)角,窗口类型,窗口是否结霜等。当样品比较厚的时候,就应该考虑吸收校正以及荧光校正(数学处理比较复杂)。下面我简单介绍一下EDS定量分析的过程。
(1)首先要有标样。标样就是和你要分析的样品有相近的成份的标准样。标准样的成份要已知,并且厚度要已知,一般可以从美国国家标准局或者国内的相关单位购买。然后测量标准样品的K因子。测量的时候要注意以下几点,(1)首先测量hole count,反应了在样品还没有被激发时电镜电子束流本身对EDS探测器计数的影响(2)对要测量成份的样品(一般是楔形样品),EDS探头要对着样品的薄区(减小特征x光逸出样品的路径,从而减小吸收)。(3)被测量元素的计数一般应在105以上,一般活时间live time要大于100秒。(4)计算K因子的时候考虑吸收校正。(5)多点测量。如果没有标样,那么利用确切已知成份的晶体也可,但必须知道厚度。
(2)相同测量条件下测量自己的样品,得到元素的K峰的强度,经过吸收校正,利用已得到的标准样的K因子,得到自己样品的元素含量。
一般EDS配备的软件给出的定量结果可以作为参考值来使用,因为其置信度不高,特别是对于超轻元素,B, C, N, O等,因为超轻元素的荧光产额低,并且吸收严重,所以EDS很难给出准确结果。
最近有人参考电子探针的元素定量分析原理对Cliff-Lorimer因子做了改进,提出了一个新的因子,实际就是质量厚度。这种方法优点很多,测量时不需要预先知道样品厚度,可以同时测量出样品中元素的含量以及测量点的厚度(在测量点密度已知的情况下),并且这种方法对超轻元素的测量结果也相对准确,但这种方法最大的缺点在于,必须准确知道电子束流强度。EELS中的Faraday cup可以测量束流强度,所以这种方法对没有配备EELS的电镜是不适用的。有兴趣者可参考 M. Watanabe and D.B. Williams, J. Micro., Vol. 221, 2006, pp 89.
今天想到哪就写到哪,可能会有一些遗漏或不太准确的地方。希望能对有兴趣的研究者提供一些有意义的信息。
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扫描电镜分析
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感谢楼主老师的热心。
还希望您能讲讲无标样半定量分析时的经验和需要注意的地方。我想这也是初学者经常要遇到的问题吧。
gdx838
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kuangbo
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geoxung
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能谱定量是个复杂的工作,但是对于有此需要的研究,其意义毋庸置疑~ 目前我们组(上硅所界面组)在这个方面做的经验是很丰富的...
yufuff
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gaozhanming
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可一般EDS的标定在出厂就已经标定好的了,到我们这就是用,怎么能知道测试结果是不是准确的呢?
Tony
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