主题:【求助】怎么根据XRD图谱算晶体的晶格常数

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zxr1231981
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各位大哥大姐:
  你们好!我做XRD时,发现所有的峰都往高角度偏移了1度多,怎么根据θ角度来计算晶格常数啊?晶面间距未知,测试时没拿到晶面间距数据。大家给我提提建议,怎么计算比较准确?谢谢大家了!
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rubyzsq
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这个要用仪器带的分析软件可以计算,别的软件我不知道行不行,Highscore plus是可以的,不过要加标样的
xuanyi
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zxr1231981
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原文由 zxr1231981 发表:
各位大哥大姐:
  你们好!我做XRD时,发现所有的峰都往高角度偏移了1度多,怎么根据θ角度来计算晶格常数啊?晶面间距未知,测试时没拿到晶面间距数据。大家给我提提建议,怎么计算比较准确?谢谢大家了!



晶面间距d  与θ角存在关系的,用布拉格公式可以算吧?这是我个人的看法,不一定对?
liangyg
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偏离了这么大的角度,就是用软件处理也会有较大的偏差。建议用标样校正后,重新测试。
mrlucian
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加内标(如Si粉或KCl)校正角度,采用严格单色化的CuKa1辐射收集图谱,那样才能计算出精确的晶格参数,一般的那种混合的CuKa辐射得出的图谱算的晶格参数是不准的
XRD
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如果不用软件,你可以在粉末样品中加入少量衍射本领高的物质,如Si粉,精确地测量与某个硅峰较接近的一个样品峰,计算出两个峰的衍射角,再查一下PDF卡片上硅峰的正确衍射角,加上测量值与标准值之差,就得到精确的无仪器误差的衍射峰,再按晶体学计算公式就可以计算出来点阵常数了。如果非立方结构就麻烦多了。基本上无法用这种方法来计算。而且,这种计算还是含有误差的,因为只有当衍射角等于90时才无系统误差。
如果用软件,如JADE,则要用完全相同的实验条件来测量一个纯硅样和样品的衍射谱全谱,按软件的方法去掉仪器误差再用全谱拟合的办法来得到精修的结果。
后一种方法可以分别计算多相样品中各不同的相的晶胞参数。由于测量的是全谱,对复杂结构的相也可以计算。但精度明显不如单相的结果。
syr
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nanjing025
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