主题:【求助】我有一块非晶态的式样,想对它进行元素分析,能用电镜不

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tianlan1984
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我有一块非晶态的式样,想对它进行元素分析,能用电镜不
推荐答案:uno680713回复于2006/11/16
最好自己去尝试尝试,不尝试永远也不知道结果。先用SEM看看,加速电压用的小点,估计点分析模式够呛。TEM的点分析模式也够呛,用扫描模式看看,电子束流强度搞的小点。
补充答案:

dengyikang1980回复于2006/11/16

用带能谱的电镜多简单!

ivy_duan回复于2006/11/23




如果元素分布均匀,并且对分析结果的精确性要求不是太高的话,可以考虑用tem 的edx来分析,个人认为,edx的定量分析很难准确,一般只用作定性或者半定量分析来用。如果是块状材料就直接考虑用配带edx的SEM来作 省去了做tem样品的繁琐。如果要定量准确不要选择edx :)

llover回复于2006/12/15

测电子能量损失谱或者干脆直接去测EDS好了

richad007回复于2006/12/16

如果是想确定有啥元素,含量多少,并且要求的精度不高,且元素的原子量大于Na的话,可以做x荧光探针。便宜方便,不损害试样。
如果要求高的话,可以去做SEM的能谱分析。可以测到B以下的元素
除非有别的要求,不然就要碰TEM,麻烦的很

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原文由 tianlan1984 发表:
我有一块非晶态的式样,想对它进行元素分析,能用电镜不



如果元素分布均匀,并且对分析结果的精确性要求不是太高的话,可以考虑用tem 的edx来分析,个人认为,edx的定量分析很难准确,一般只用作定性或者半定量分析来用。如果是块状材料就直接考虑用配带edx的SEM来作 省去了做tem样品的繁琐。如果要定量准确不要选择edx :)
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richad007
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如果是想确定有啥元素,含量多少,并且要求的精度不高,且元素的原子量大于Na的话,可以做x荧光探针。便宜方便,不损害试样。
如果要求高的话,可以去做SEM的能谱分析。可以测到B以下的元素
除非有别的要求,不然就要碰TEM,麻烦的很
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