原文由 lzlflying 发表:
感谢楼上各位师兄的回答!胶片的事我算清楚了一些。
(1)可如果是对高分辨CCD像分析,对高分辨像进行FFT转换在倒空间进行衍射标定,只能用软件了吧?
(2)师兄能否把DM软件如何测量衍射斑点到透射斑点的距离和角度的方法和详细操作步骤给写一下?
DM软件中Calibrated是干什么用的?它在什么条件下用?
(3)针对高分辨像我除了能衍射标定之外,还能分析和做些什么?
>1. 如果是CCD 采集的高分辩象,我一般是不用FFT作衍射分析的。在衍射状态下,根据菊池线(Kikuchi Line)能严格知道所处的晶带轴方向,顺便就采集衍射图。所以也用不着FFT转换的图。
>2. “Standard Tools”工具栏中有一个直线工具,使其贯穿几个衍射斑点,线长和倾角(相对于水平)即显示在“Control”工具栏中。(Windows--Floating Windows--Show All打开所有工具栏。)另外划线完毕后会弹出一个Histogram窗口,其中可以有诸多Modification。可以看到目标精确距离,可以根据对比度准确找到衍射点中心。
>3. 高分辩象主要是看原子象(Atomic Structure)。可以看的很多,要结合你的研究目的。比如,可以标定纳米晶体颗粒各个表面的晶面参数,可以确定纳米线生长方向,可以确定界面处不同相的相互晶面关系,可以看到外延生长物在基底表面处的Misfit。