主题:[求助]关于介孔分子筛的TEM和XRD测试

浏览0 回复18 电梯直达
zhangxueao
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知道ustb是做介孔材料的专家,特请教几个问题。由于课题需要我开始捣鼓介孔材料,合成的主要有MCM-41、SBA-11以及SBA-15。开始的时候我一直做介孔薄膜,摸索出了一些XRD和TEM的测试手段。但最近开始做它们的粉体材料,以前没有尝试过,不知道它们的测试有什么特别要求,关键是制备样品,是不是TEM和XRD都需要把粉体研磨成微小粒子,再进行测试。谢谢!
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怪味陈皮
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原文由 zhangxueao 发表:
知道ustb是做介孔材料的专家,特请教几个问题。由于课题需要我开始捣鼓介孔材料,合成的主要有MCM-41、SBA-11以及SBA-15。开始的时候我一直做介孔薄膜,摸索出了一些XRD和TEM的测试手段。但最近开始做它们的粉体材料,以前没有尝试过,不知道它们的测试有什么特别要求,关键是制备样品,是不是TEM和XRD都需要把粉体研磨成微小粒子,再进行测试。谢谢!

专家谈不上,做介孔材料shxie经验比我丰富。如果是粉末样品,颗粒尺寸不是太大,直接拿去做XRD就可以了。做TEM要先在研钵中研磨一下,你可以直接干磨,也可以加酒精研磨,然后滴在微栅上,放到电镜中观察。
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原文由 ustb 发表:
专家谈不上,做介孔材料shxie经验比我丰富。如果是粉末样品,颗粒尺寸不是太大,直接拿去做XRD就可以了。做TEM要先在研钵中研磨一下,你可以直接干磨,也可以加酒精研磨,然后滴在微栅上,放到电镜中观察。

同意,介孔的TEM观察其实没有什么特别的制样过程,一般的研磨足够了,找孔道的时候要有耐心,而且注意不要用太强的光以防辐照损伤。
zhangxueao
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原文由 zhangxueao 发表:
非常感谢ustb和shxie两位的解答。
感谢之至!

不客气,顺便说一下,看介孔材料因为要用弱光,如果想要看2-3nm的孔道,眼睛需要通过体视显微镜观察,对眼睛不利,建议每30min休息一下。
怪味陈皮
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原文由 shxie 发表:
不客气,顺便说一下,看介孔材料因为要用弱光,如果想要看2-3nm的孔道,眼睛需要通过体视显微镜观察,对眼睛不利,建议每30min休息一下。

我做的时候,屋子里基本全黑,一般都是一次做三个小时,累啊。
wiley
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,我也要开始学习做介孔材料的表征,以前都是做的纳米颗粒,两个东西可能还不太一样呢?到时还要向几位专家请教。
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原文由 wiley 发表:
,我也要开始学习做介孔材料的表征,以前都是做的纳米颗粒,两个东西可能还不太一样呢?到时还要向几位专家请教。

是不太一样?你都做多大孔径的介孔?结构是什么呢?
wiley
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嗯,我才刚开始做,想要做PMO,但是现在的XRD表征表明只是在2点几度的地方
有衍射峰出现,所以可能结构还不是很有序。
也不知道是什么原因?一般出现这种情况的原因是什么呢?
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原文由 wiley 发表:
嗯,我才刚开始做,想要做PMO,但是现在的XRD表征表明只是在2点几度的地方
有衍射峰出现,所以可能结构还不是很有序。
也不知道是什么原因?一般出现这种情况的原因是什么呢?

小角XRD峰不好TEM未必差,但是还是把小角做好了保险一点,毕竟做小角要比TEM简单易行多了。
至于为什么合成的不好,我想总归要试条件了,还有制备时的天气据说也有关系,呵呵。
weiy
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如果做xrd小角时出现了一个峰,但是很低,是说明材料结晶的不好吗?
xrd在小角出现峰,一定是介孔材料吗?还有其他的可能吗?
谢谢
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