主题:【分享】弱弱地上图

浏览0 回复13 电梯直达
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今天试一下材料扫描, 扫了几张发上来
主机Leica TCS SP2 UV
选取物镜HCX PLAPO 20x CS NA0.75
选取波长488nm
选取Pinhole值0.27Airy, Pinhole实际尺寸20um
选取象素1024*1024
选取象素位数8Bit,
选取Z轴步进0.36um, 共51层


51层中的一层



TOPO图



实体图



网格图



等高线图



某处表面轮廓曲线

忘了拷原图测量位置的图了
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大笨狗
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物镜 20x Pinhole值0.27Airy, 不知道激光强度和gain以及offset值大概取多少?红、蓝控制的如何?

噪声控制的可以,不知道实体图有没有经过图像处理(过滤、guass模糊,傅立叶转换之类的)

下面是我用50X物镜, Pinhole值1.60Airy,切片20层做的,激光强度50%,gain值100, offset值0.1

附带二维和三维轮廓分析

注:图片分辨率较大(1024*1024),需放大看。

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物镜 20x Pinhole值0.27Airy, 不知道激光强度和gain以及offset值大概取多少?红、蓝控制的如何?

噪声控制的可以,不知道实体图有没有经过图像处理(过滤、guass模糊,傅立叶转换之类的)

下面是我用50X物镜, Pinhole值1.60Airy,切片20层做的,激光强度50%,gain值100, offset值0.1

附带二维和三维轮廓分析

注:图片分辨率较大(1024*1024),需放大看。


原先认为激光强度和gain以及offset值不同样品反射率不同, 写出来意义不大, Gain应该在200~300左右, Offset为0. Zeiss的红蓝控制在Leica表示为蓝绿, 在图中有反映.实体图是Topo的实体, 未想到直接显示3D, 未经其它处理,如经图像处理的话就不能反映粗糙度了?  以后有机会在上图, 可惜金属材料的样品没有, 这只是样品的框架.
如果Pinhole为1.6Airy的话是否层面太厚了, 按通常50X物镜NA约0.8左右, 如果1.6Airy的话层面解析可能都要有1um左右啦.
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原先认为激光强度和gain以及offset值不同样品反射率不同, 写出来意义不大, Gain应该在200~300左右, Offset为0. Zeiss的红蓝控制在Leica表示为蓝绿, 在图中有反映.实体图是Topo的实体, 未想到直接显示3D, 未经其它处理,如经图像处理的话就不能反映粗糙度了?  以后有机会在上图, 可惜金属材料的样品没有, 这只是样品的框架.
如果Pinhole为1.6Airy的话是否层面太厚了, 按通常50X物镜NA约0.8左右, 如果1.6Airy的话层面解析可能都要有1um左右啦.


我以前pinhole值一直设在0.3左右,但是红蓝调节时蓝色的残留老是去不掉,所以你看我的offset总是调到最大0.1。这个是不是我的设备参数没有调好?
另外我发现在比较小的pinhole下,如果我想得到比较高的亮度,只能跳激光强度和gain值,但是很容易出现红色,如果我调到红色基本上没有的时候,切片的图像大部分都很暗。昨天我试着在50X物镜下调整激光强度,gain值以及offset到基本上没有红、蓝出现,然后调大pinhole值,这样整个切片亮度就上来了,而且不会出现红色。
waters5000
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原文由 userwuq 发表:
我以前pinhole值一直设在0.3左右,但是红蓝调节时蓝色的残留老是去不掉,所以你看我的offset总是调到最大0.1。这个是不是我的设备参数没有调好?
另外我发现在比较小的pinhole下,如果我想得到比较高的亮度,只能跳激光强度和gain值,但是很容易出现红色,如果我调到红色基本上没有的时候,切片的图像大部分都很暗。昨天我试着在50X物镜下调整激光强度,gain值以及offset到基本上没有红、蓝出现,然后调大pinhole值,这样整个切片亮度就上来了,而且不会出现红色。

Pinhole 小了, Z轴层面分辨率提高, 得到的结果是不在焦平面的影像将不在象平面的针孔后出现, 表现出来的不就是黑吗? 个人见解
tcjscl
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Pinhole 小了, Z轴层面分辨率提高, 得到的结果是不在焦平面的影像将不在象平面的针孔后出现, 表现出来的不就是黑吗? 个人见解

按道理是这样的,但是一直有一个问题,我举个例子:
以滑痕为例,假如整个划痕波峰到波谷的扫描深度为10微米,我做切片时,应该在5微米中间处进行红蓝调节,当我调好红蓝时移到波峰处,会显示很多红色(即过亮),而移到波谷处是会显示很多蓝色(为过暗)。所以当我尽量将波峰处的红色调没时,波谷处已经暗的不行了。
这个让我很头疼。
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原文由 userwuq 发表:
按道理是这样的,但是一直有一个问题,我举个例子:
以滑痕为例,假如整个划痕波峰到波谷的扫描深度为10微米,我做切片时,应该在5微米中间处进行红蓝调节(why),当我调好红蓝时移到波峰处,会显示很多红色(即过亮),而移到波谷处是会显示很多蓝色(为过暗)。所以当我尽量将波峰处的红色调没时,波谷处已经暗的不行了。
这个让我很头疼。

无论波峰还是波谷, 从波峰到波谷总有一垂直位置是在共焦面上, 若是理想划痕,扫描得到的自上而下为:一黑调带在聚焦面-->黑色条带变窄同时聚焦面离焦变黑, 在原黑带边缘出现两亮线-->亮线靠拢中-->两线合为一线(到划痕底)-->线变暗(离焦). 是这样吗?
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原文由 leicafans 发表:
无论波峰还是波谷, 从波峰到波谷总有一垂直位置是在共焦面上, 若是理想划痕,扫描得到的自上而下为:一黑调带在聚焦面-->黑色条带变窄同时聚焦面离焦变黑, 在原黑带边缘出现两亮线-->亮线靠拢中-->两线合为一线(到划痕底)-->线变暗(离焦). 是这样吗?

应该是这样的,但是我觉得有可能是波峰和波谷对光的反射差别造成的,我回头再咨询一下ZEISS的工程师。
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