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ID:Ins_1f970056
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ID:iangie
原文由 iangie(iangie) 发表:Z轴样品台是方便测不同高度的块材的如果你的样品是粉末,用Z轴样品台测之前必须做样品高度对中: 保证X光能照到样品。样品高度偏离测角圆中心会造成衍射峰偏移,严重的偏移甚至导致X光照不到样品。如此不同的两个XRD数据,必然有一次测量是错误的。
原文由 Ins_1f970056(Ins_1f970056) 发表:我这种材料是氧化石墨烯抽滤到膜上的,所以我想问一下对于这种材质用Z轴样品台可以测到膜上,不测到基底上面吗?