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主题：【求助】金属基复合材料中增强颗粒只有200nm左右，想测其成分，如何测啊

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yesky
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发表于：2007/04/29 01:29:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
又想避免基体的干扰
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2007/4/30 8:25:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 yesky 发表:
又想避免基体的干扰


可以采用场发射俄歇电子能谱,采用选区分析,找到要分析的点,进行成分分析.目前,场发射俄歇电子能谱的空间分辨率可以达到8nm,应该是没有问题的.
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yesky
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2007/5/4 23:35:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
上海附近有这样的设备吗？
北京有点远了
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csl_moon
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2007/5/5 9:39:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 yesky 发表:
又想避免基体的干扰


將基體和增強顆粒分離,你應該知道它們分別是甚麼,選取合適的分離方法就可以了
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手机版： 【求助】金属基复合材料中增强颗粒只有200nm左右，想测其成分，如何测啊
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