主题:【已应助】无定形氧化硅纳米薄膜XRD表征求助

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Ins_a2703f46
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求教,目前需要表征氧化硅薄膜,无法从基底上独立出来,我们通常把薄膜做在单晶硅片上。厚度可以控制在纳米-几个微米之间。
我们需要做这种无定形氧化硅结构的pdf(对分布函数)分析,请问有没有什么推荐的XRD表征方法呢?

掠入射XRD可能比较适合我们的薄膜体系,但是向老师咨询了一下,掠入射角度范围太小了,无法用来做pdf分析。
推荐答案:iangie回复于2024/04/11
几个微米厚的东西可以用FIB cut出来.
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iangie
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几个微米厚的东西可以用FIB cut出来.
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