XRF(X射线荧光)和EDS-mapping(能量色散X射线光谱成像)都是用于分析材料化学成分的重要技术,它们各有优势和特点。
XRF是一种无损分析技术,通过分析样品由一级X射线源激发而散射出的荧光X射线来确定样品的化学属性。XRF技术可以快速、准确地分析固体、液体甚至粉末样品中的元素成分,具有分析速度快、样品制备简单、可分析元素范围广等优点。XRF特别适用于快速筛查和原位分析,而且便携式XRF设备允许在现场进行分析。
EDS-mapping,也称为能谱分析,是电子显微镜的一个附件,通过分析样品在电子束激发下产生的X射线来确定样品的化学成分。EDS-mapping可以提供高空间分辨率的元素分布图,特别适合于分析材料的微区成分,如颗粒、相界面等。EDS分析的相对误差有相应的规定,例如主元素(>20%wt)允许的相对误差≤±5%,而含量在±1%wt到3%wt的元素,允许的相对误差≤30%。EDS-mapping通常与SEM或TEM结合使用,可以提供形貌和化学组成的综合信息。
选择XRF还是EDS-mapping取决于具体的分析需求。如果需要快速、无损地分析大量样品或需要分析整个样品的化学成分,XRF可能是更好的选择。如果需要分析样品的微区成分或需要高空间分辨率的元素分布图,EDS-mapping可能更为合适。在实际操作中,两种技术也可以联合使用,以获得更全面的分析结果。