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ID:wwworm
行业:其他
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ID:huibingzhang
ID:nameylf
原文由 wwworm 发表:本人希望分析半导体薄膜表层元素的含量,由于某些元素含量可能极少,普通能谱/波谱仪无法分辨,听说X射线荧光谱可以分析到10ppm,不知道实际效果如何?另外,本人是西安的,哪位如果知道西安有比较好的x射线荧光谱仪,麻烦告知一下小弟,谢谢
ID:pxlzhb2000
ID:j-xinjun9802
原文由 j-xinjun9802 发表:不是据说,事实如此!我用的是帕纳科PW4400 XRF,某些元素的检出限可精确到1个ppm,看你要分析什么元素吧,检出限在10个ppm一下的元素很多!
ID:george