主题:【已应助】CNAS相关,用三圆截点法测薄板晶粒度的时候,500mm的测量网格放在样品表面,50倍下网格超出样品大小,100倍放大倍数下网格会超出视场大小,各位有好的解决办法吗?,各位大佬如何解决

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用的是蔡司显微镜,金相软件是proimaging,软件内置500mm同心圆网格
推荐答案:ldx_8261回复于2024/07/30
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GB/T 6394—2017

截点法是通过计数给定长度的测量线段(或网格)与晶粒边界相交截点数来测定晶粒度。

对于非均匀等轴晶粒应使用截点法。对于非等轴晶粒度,截点法即可用于分别测定三个相互垂直方向的晶粒度,也可以计算总体平均晶粒度。

截点法有直线截点法和圆截点法。圆截点法可不必过多的附加视场数,便能自动补偿偏离等轴晶而引起的误差,克服了试验线段端部截点法不明显的毛病。圆截点法作为质量检测评估晶粒度的方法是比较合适的。

推荐使用500mm测量网格,尺寸见图1。



1 截点法用的500mm测量网格

注:

1直线总长500mm;周长总和:250+166.7+83.3=500.0mm

三个圆的直径分别:79.58mm53.05mm26.53mm

温馨提示:图1仅是500mm直线截点法和500mm三圆截点法所用网格线重叠制图,标准无复合网格法

平均截距:




L——试验线长度,单位mm

l——1倍下的平均截距长度,单位mm

M——放大倍数;

Pi——晶界与试验线点数;

每个视场平均晶粒度G的计算:






GB/T 6394—2017

三圆截点法 应用规则

1、试验表明,每个试样截点计数达500时,获得可靠的精确度对测量数据进行X 2Kai方)检验,结果表明截点计数服从正态分布,从而允许对测量值按正态分布的统计方法处理对每次晶粒度测定结果可计算出结果的偏差及置信区间。

2、测量网格由三个同心等距,总周长为500mm的圆组成见上图。将此网格用于测量任意选择的五个不同视场上,分别记录每次的截点数。然后计算出平均晶粒度和置信区间,如置信区间不合适,需增加视场数,直至置信区间满足要求为止。

3、选择适当的放大倍数,使三个圆的试验网格在每视场上产生40100截点计数,目的是通过选择5个视场后获得400500总截点计数,以满足合理的误差。2给出500mm测量网格在不同放大倍数下,截点计数与晶粒度级别数G的关系。图中阴影区域为最佳测量范围。

4、通过三个晶粒汇合点时截点计数为2个。

GB/T 63942017

晶粒度测定结果的置信区间及相对误差的计算

相对误差%RA不大于10测量结果视为有效。

把同一测量网格使用在n个视场上测量获得的截点数分别为P1P2……Pn

平均截点计数计算:






截点计数的标准差计算:






95%置信区间计算:






t值根据选取视场数n选取:

视场数n

5

6

7

8

9

10

11

12

t

2.776

2.571

2.447

2.365

2.306

2.262

2.228

2.201

视场数n

13

14

15

16

17

18

19

20

t

2.179

2.160

2.145

2.131

2.120

2.110

2.101

2.093



测量计数的相对误差(%RA)计算:






如果%RA预期要求相差太大,应增视场数后重新计算。对于大多数的一般应用,% RA不大于10%,测量结果视为有效

相应的平均晶粒度级别数G计算:



P——平均截点计数;

M——所用的放大倍数;

L——试验线长度,单位mm

平均晶粒度G的相应的95%置信区间(95%CI)计算:



P——平均截点计数;

S——截点计数的标准;

i——视场数。

平均晶粒度的测量结果表示:

G±95%CI

截点法用500mm测量网格(三圆)制作技巧

1步:画直径26.53mm的圆



A、圆的高度和宽度均设为26.53mm

B、选择无填充颜色

C、选择线的粗细0.5

D、线的颜色选自己喜欢的颜色

2步:画直径53.05mm的圆



A、圆的高度和宽度均设为53.05mm

B、选择无填充颜色

C、选择线的粗细0.5

D、线的颜色选自己喜欢的颜色

3步:画直径79.58mm的圆



A、圆的高度和宽度均设为79.58mm

B、选择无填充颜色

C、选择线的粗细0.5

D、线的颜色选自己喜欢的颜色

E、绘制圆的中心线

4步:将三圆组合在一起成为一个整体。

A、将三圆和中心线均浮于文字上方

B、再将这三园和中心线组合起来能整体移动



利用Excel编辑晶粒度测定结果的置信区间及相对误差的计算:



每个视场的截点总数 =SUM(B2:D2)



平均截点数/=SUM(E2:E8)/7

平均截距μm =500*1000/(200*F2)

平均晶粒度级别数 =(6.643856*LOG10(200*F2/500))-3.288

方差 =POWER((((E2-F2)^2+(E3-F2)^2+(E4-F2)^2+(E5-F2)^2+(E6-F2)^2)+(E7-F2)^2+(E8-F2)^2/6),0.5)

置信区间 =3.321928*LOG10((F2+(2.447*I2/POWER(7,0.5)))/(F2-2.447*I2/POWER(7,0.5)))

相对误差 =100*J2/H2
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这个是100倍,500mm的网格勉强能放下,但是截点数太多了
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截点法是通过计数给定长度的测量线段(或网格)与晶粒边界相交截点数来测定晶粒度。

对于非均匀等轴晶粒应使用截点法。对于非等轴晶粒度,截点法即可用于分别测定三个相互垂直方向的晶粒度,也可以计算总体平均晶粒度。

截点法有直线截点法和圆截点法。圆截点法可不必过多的附加视场数,便能自动补偿偏离等轴晶而引起的误差,克服了试验线段端部截点法不明显的毛病。圆截点法作为质量检测评估晶粒度的方法是比较合适的。

推荐使用500mm测量网格,尺寸见图1。



1 截点法用的500mm测量网格

注:

1直线总长500mm;周长总和:250+166.7+83.3=500.0mm

三个圆的直径分别:79.58mm53.05mm26.53mm

温馨提示:图1仅是500mm直线截点法和500mm三圆截点法所用网格线重叠制图,标准无复合网格法

平均截距:




L——试验线长度,单位mm

l——1倍下的平均截距长度,单位mm

M——放大倍数;

Pi——晶界与试验线点数;

每个视场平均晶粒度G的计算:






GB/T 6394—2017

三圆截点法 应用规则

1、试验表明,每个试样截点计数达500时,获得可靠的精确度对测量数据进行X 2Kai方)检验,结果表明截点计数服从正态分布,从而允许对测量值按正态分布的统计方法处理对每次晶粒度测定结果可计算出结果的偏差及置信区间。

2、测量网格由三个同心等距,总周长为500mm的圆组成见上图。将此网格用于测量任意选择的五个不同视场上,分别记录每次的截点数。然后计算出平均晶粒度和置信区间,如置信区间不合适,需增加视场数,直至置信区间满足要求为止。

3、选择适当的放大倍数,使三个圆的试验网格在每视场上产生40100截点计数,目的是通过选择5个视场后获得400500总截点计数,以满足合理的误差。2给出500mm测量网格在不同放大倍数下,截点计数与晶粒度级别数G的关系。图中阴影区域为最佳测量范围。

4、通过三个晶粒汇合点时截点计数为2个。

GB/T 63942017

晶粒度测定结果的置信区间及相对误差的计算

相对误差%RA不大于10测量结果视为有效。

把同一测量网格使用在n个视场上测量获得的截点数分别为P1P2……Pn

平均截点计数计算:






截点计数的标准差计算:






95%置信区间计算:






t值根据选取视场数n选取:

视场数n

5

6

7

8

9

10

11

12

t

2.776

2.571

2.447

2.365

2.306

2.262

2.228

2.201

视场数n

13

14

15

16

17

18

19

20

t

2.179

2.160

2.145

2.131

2.120

2.110

2.101

2.093



测量计数的相对误差(%RA)计算:






如果%RA预期要求相差太大,应增视场数后重新计算。对于大多数的一般应用,% RA不大于10%,测量结果视为有效

相应的平均晶粒度级别数G计算:



P——平均截点计数;

M——所用的放大倍数;

L——试验线长度,单位mm

平均晶粒度G的相应的95%置信区间(95%CI)计算:



P——平均截点计数;

S——截点计数的标准;

i——视场数。

平均晶粒度的测量结果表示:

G±95%CI

截点法用500mm测量网格(三圆)制作技巧

1步:画直径26.53mm的圆



A、圆的高度和宽度均设为26.53mm

B、选择无填充颜色

C、选择线的粗细0.5

D、线的颜色选自己喜欢的颜色

2步:画直径53.05mm的圆



A、圆的高度和宽度均设为53.05mm

B、选择无填充颜色

C、选择线的粗细0.5

D、线的颜色选自己喜欢的颜色

3步:画直径79.58mm的圆



A、圆的高度和宽度均设为79.58mm

B、选择无填充颜色

C、选择线的粗细0.5

D、线的颜色选自己喜欢的颜色

E、绘制圆的中心线

4步:将三圆组合在一起成为一个整体。

A、将三圆和中心线均浮于文字上方

B、再将这三园和中心线组合起来能整体移动



利用Excel编辑晶粒度测定结果的置信区间及相对误差的计算:



每个视场的截点总数 =SUM(B2:D2)



平均截点数/=SUM(E2:E8)/7

平均截距μm =500*1000/(200*F2)

平均晶粒度级别数 =(6.643856*LOG10(200*F2/500))-3.288

方差 =POWER((((E2-F2)^2+(E3-F2)^2+(E4-F2)^2+(E5-F2)^2+(E6-F2)^2)+(E7-F2)^2+(E8-F2)^2/6),0.5)

置信区间 =3.321928*LOG10((F2+(2.447*I2/POWER(7,0.5)))/(F2-2.447*I2/POWER(7,0.5)))

相对误差 =100*J2/H2
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2024/7/30 16:53:53 Last edit by ldx_8261
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主要问题是我的样品晶粒度在9.5-10.5之间,500mm的三圆网格比较难操作,视场倍数小的话截点太多,倍数大的话网格就超出视场
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我认为还是倍数小点,超出视场测量结果应该是不准确的
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