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主题：光谱校正原理之一----离峰校正法

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tzl75
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发表于：2005/03/18 10:05:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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(1)离峰校正法：是一种经典的校正方法，主要用于简单光谱背景干扰情况和简单元素谱线干扰的校正，常用的有离峰单点，两点，多点等校正方法。当波长漂移比较大、背景分布不均匀时，测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致，此时采用离峰校正法将会引起比较大的误差，因此如果存在上述情况，建议不应使用此法校正。
由于背景的存在，使分拆线信号测量值产生正的偏离，对于发射法而言，设Ix为分析线发射强度，Ib为背景发射强度，则谱线的表观强度(Ix+b)为
    Ix+b＝Ix+Ib                                （1）
或
    Ix＝Ix+b-Ib（注意我们用ICP分析时就用Ix做标准曲线的）
一般用谱线与背景的强度比的对数表示：
    Log(Ix/Ib)=Log[(Ix+b/Ib)-1]                （2）
可见，只要测出Ix+b／Ib并减去1，然后取对数即可得到Log(Ix/Ib)。由于Ib是不随分析物浓度变化的常数，故Log(Ix/Ib)一般可以代替IogIx使用。无论光电法或摄谱法，背景强度Ib均在离峰位置(Ix+b为峰值位置表观强度)进行测量。对于光电法，离峰位置可由置于光路中的往复振荡的石英折射板来控制(现代商业仪器多采用计算机控制)。而对于摄谱法，背景强度Ib系通过照相参量Pb来度量，离峰位置视背景轮廓而定，对于均匀背景，背景值可选谱线任一边的数值来提供，而对于不均匀的背景轮廓，则应预先了解背景分布情况，而后确定测量位置并以谱线两边背景平均值作为背景值加以扣除，式(2)中Ix+b/Ib值可以方便的由乳剂校正曲线读出的Log（Ix+b/Ib）得到。

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2005/4/3 9:41:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
有用。。。但我还是新人。不太理解。。
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