主题:请教:场发射扫描电镜可以做显微偏析吗?

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huang150429
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我正在做材料的显微偏析(S和P),去年我用EPMA做,可是EPMA的成像不好(比不上扫描电镜),我没办法分辨微区(几个微米左右),另外材料中S含量很低,只有几十个ppm左右,SEM打不出来。我想问问大家,我这种情况,用场发射扫描电镜可以实现吗?如果不行,还有什么其他的方法可以实现啊?谢谢,我就靠这个博士毕业呢,呵呵。。。
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原文由 huang150429 发表:
我正在做材料的显微偏析(S和P),去年我用EPMA做,可是EPMA的成像不好(比不上扫描电镜),我没办法分辨微区(几个微米左右),另外材料中S含量很低,只有几十个ppm左右,SEM打不出来。我想问问大家,我这种情况,用场发射扫描电镜可以实现吗?如果不行,还有什么其他的方法可以实现啊?谢谢,我就靠这个博士毕业呢,呵呵。。。

在最佳的实验条件下,能谱的最低探测极限在0.01-0.1%上下,离ppm还有些距离,想点其它的方法吧。如果你可以制成TEM样品,也许可以试试电子全息。半导体里几个ppm的参杂可以用这个方法观察到。
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