原文由 大陆(handsomeland) 发表:
不错的原创。引两块砖供探讨:
1、背景抑或非晶?光凭结晶度未知的单个样品是不能说明什么的,更不能当作定量。
---------------这是计算结晶度的例子, 不是QXRD定量的例子. TOPAS根据各相的cif结构采用Rietveld方法来定量. 如果有机会我会以后给出例子. 黄老师的这个谱730.raw这个谱包含非晶相,也包含晶相, 通常非晶馒头粉和背景是很难区分开的, 这个例子展示如何用软件拟合背景, 减少人为扣除背景的不确定度.
2、pdf中声称topas可以对各个峰进行不同的峰型描述,有没有可能增加人为随意性风险?
---------------任何软件都是根据用户的指令工作的, TOPAS根据用户的选择计算出的结果是唯一的, 这里面不存在"随意性". 你谈到的"随意性"在于使用者本身. TOPAS允许用户有更多的选择, 对于有经验的用户来说是好事. 对于初上手的用户,则需要他们认真阅读软件手册了.
3、pdf中声称topas关于峰型形成的算法特色在于卷积(其他软件一般是简单相加),根据我对卷积的数学物理图像的浅薄理解,在特征峰不重叠或特征区间内某个函数为恒值时,卷积除了引入算法的复杂度外并不能带来有益产出。不知楼主有没有阅读过关于此点的优势论证的文献?Anyway,如果同时提供多种选项,这是最理想的软件
---------------拿仪器峰宽的标定来说, Jade的处理仅仅是标定半高宽函数. 这只是一个很粗浅的标定, 并没有完全运用整个峰形的信息. 那么在实测的峰形中怎样区分哪部分是仪器峰形,哪部分是光源峰形, 哪部分才是样品峰形呢? 只有用卷积和去卷积才能做到. 据我所知新一代的Rietveld软件TOPAS, BGMN, MAUD都开始使用卷积计算峰形了.
请大陆老师指明"优势论证文献"的作者 期刊 期 卷 页码, 我一定会去拜读.
关于软件的算法部分, TOPAS作者Alan Coelho和Arnt Kern在近10年内发表了不少新算法.
Coelho, A.A. (2003): Indexing of powder diffraction patterns by iterative use of singular value decomposition. - J. Appl. Cryst, 36, 86–95.
Coelho, A. A. (2005): A bound constrained conjugate gradient solution method as applied to crystallographic refinement problems. - J. Appl. Cryst., 38, 455-461.
Coelho, A. A. (2007): A Charge Flipping algorithm incorporating the tangent formula for solving difficult structures. - Acta Cryst., A36, 400–406.
Coelho, A. A. & Cheary, R. W. (1997): A fast and simple method for calculating electrostatic potentials. - Computer Physics Communications, 104, 15-22
Coelho, A.A. (2000): Whole Profile Structure Solution from Powder Diffraction Data using Simulated Annealing. - J. Appl. Cryst., 33, 899-908.
Coelho, A.A. & Kern, A. (2005): Discussion of the indexing algorithms within TOPAS. - CPD Newsletter, 32, 43-45.