个人觉得有些部分的翻译有些问题,提出来大家讨论一下。
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无机麦地(shuiyang88
) 发表:
进样系统这部分应该说的是直接进样系统,和传统的进样系统有差别
【1段】气体中碳同位素比值的直接测量可以通过把气体直接连接有聚四氟乙烯(PTFE)矩管和单流限流器的ICP火炬中,限流不需要质量流量控制器,因为它可能会导致产生同位素碎片[58]。
这是Santamaria-Fernandez 在2008年发表的一个非常精彩的成果。使用特氟龙的管连接单流流量控制器将样品引入炬管后使用ICPMS直接测量气体中的碳同位素,这样不需要使用质量流量控制器从而避免因其产生的同位素分馏。
有一种新的便宜的气体转化器用来实时测量大气颗粒物(APM),它而对周围大气颗粒物的的动力学学研究是十分重要的[59]。这个装置由两个同心矩管组成,一个样品气流动的多孔硅管,另一个载气流动的鹏硅酸盐的玻璃管引入Ar气。
因为两个矩管压力不一样,在空气中气体分子与Ar气体进行交换,然后大气颗粒物就在Ar的载带下进入等离子体中。
因为两个管中气体的分压不同,空气样品中的气体分子与Ar气进行交换,所以大气中的颗粒物在Ar气的携带下进入等离子体中。
为了提高气体交换效率,三个气体交换器被平行用来保证650mL/min的空气引入速率和7 L/min的吹扫Ar气速率,各种大小的大气颗粒物能够被直接引入ICP火炬管中[59]。然而这种方法产生了噪声信号,如果有许多尖形峰那么说明有许多粗糙的颗粒物进入了等离子气体中。
如果采用一个粒子大小控制器,它能够控制气体粒子大小,则可以研究特定粒子的动力学研究。虽然定量分析比较困难,但是可以获得元素浓度,化学组成,颗粒大小分布等信息。如果能够采用粒度控制仪来控制检测的颗粒大小,就可以采用这种技术来进行特定粒径的颗粒的动力学研究。当然,这种技术还存在一些问题,比如需要有已知元素浓度,化学组成和颗粒分布的标准物质。
雾化器【2段】样品的生产能力可以通过使用Elemental的Scientific FAST的样品引入系统来得到提高,它运用一个隔膜泵来及时的填充样品回路以加入到酸性载体蒸汽中[60]。
样品的利用率在使用Elemental Scientific的 FAST进样系统时可以提高一倍。这个系统采用隔膜泵将样品脉冲式进到样品环中,然后通过蠕动泵和内标溶液混合后注入酸性载气中。
后者通过一个蠕动泵,和到达低流动区前与加入的标准内标物质溶液混合,PFA-ST微型同心雾化器嵌入了珀尔贴冷却器,挡板和玻璃的回旋雾化室[60]。
进样体积足够大时候产生稳定的信号,不连续的进样会导致盐在锥口的沉积。
应是降低盐在锥口的沉积
此外,样品溶液的记忆效应和冲洗时间的最小化与Teflon(从不流经蠕动泵管)有关,不像传统的FI,蠕动泵是为了把样品引入到样品管路中。
此外,因为进样过程仅仅与Teflon接触,避免了传统FI进样时使用蠕动泵进样,需要使用其他材质的进样管,从而将记忆效应和冲洗时间降到最低。
因此,和传统的FI与气动层流雾化器结合,或者是Scott双通道雾器,它能获得更好的准确性和精度,并且具有较低的检出限和样品消耗较少[61]。
并且和采用气动层流雾化器及scott双通雾室的传统FI相比,这套进样系统可以获得更好的准确度和精度,更低的样品用量和检测限。
一个特例是Hg,消除它对结果的影响是十分重要的,因为它在回路中不是真正被清洗干净,即它很可能对下一次的测定产生影响。虽然如此,对ICPMS商家来说,当在潜在的客户面前分析样品时候,它常常用来证明FAST系统能够获得很好的处理能力。Hg是一个特例,在采用FAST进样系统时有很显著的残留。因为采样环没有被真实清洗过,而可能是被引入的下一个样品清洗。然后对于ICPMS供应商来进行演示或者对潜在新客户进行样品测试来说,FAST的高效很受关注。
很抱歉,其他几个部分有空再讨论吧。