1.用XRF初筛的时候存在一定的的误差,如果测试结果有检出,但是远远小于限量,还有必要用ICP测吗?例如聚合物总铬含量有检出,但低于1000mg/kg,还有必要测六价铬吗?如果可以不测了,报告该怎样说明。
并不是说低与1000ppm就可以不测,IEC62321-3-2:2013接受XRF筛选,里面也提到不确定度30%,所以结果700以下可以判定合格,报告注明参照IEC62321-3-2:2013;前提是你们有经过方法确认等资料并且客户认可或者是认可项目
2.根据标准,金属部分要求至少凑25cm2表面积去进行实验,对于那些表面积很小的部件,例如针脚,要凑25cm2,得拆多少元件,有什么简单的方法吗?
可以做风险管控,针对材质及其厂家提供的BOS,COC(符合性申明书)等管控,虽然IEC62321-7-1:2015是针对金属表面六价铬的沸水测定,但是筛选还是有不少是点测试;
3.一块电路板上面有多个电子元件,不同元件有类似的金属片,这些是不是都必须分开测?这都分开测的话,该怎么命名区区分呢?
这个就是拆分成均质材料,内部文件有无对样品拆分命名等要求,可以参照涂层,塑胶,金属件等单独命名