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ID:Ins_0d2ea44e
行业:其他
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ID:anping
原文由 夕阳(anping) 发表:(1)首先不要将带通滤光片放置在光路中而实施700~980nm 区域间的基线校正。(2)然后将滤光片插入到样品槽中,此时再测滤光片看看透过率是多少?
原文由 Ins_0d2ea44e(Ins_0d2ea44e) 发表: 您好,正式测试前都有进行基线矫正,这里的850的实际数据就是测试前校正,测试的数据
原文由 夕阳(anping) 发表: 如此,您在最基线校正时,样品側和参比側的光路中放置其他物体(例如光学载体类)了吗?
原文由 Ins_0d2ea44e(Ins_0d2ea44e) 发表: 基线校正时是以空气为参比未放任何载体,样品测试也是直接将样品放置在积分球上,无光学载体
ID:Ins_3d57c64f
原文由 Ins_3d57c64f(Ins_3d57c64f) 发表:不知道我的回答会不会对您有帮助。我用的是日立的分光光度计,在测试时,用的扫描速度是1200,在800nm处会有一个不应该出现的高峰,可能是光路转换时造成的。解决办法是降低扫描速度。我看你也是在800多高透过,可能会造成透过率叠加?
ID:spain
原文由 Ins_0d2ea44e(Ins_0d2ea44e) 发表: 我们用的设备比较简单,就是普通光谱仪,还没有扫描速度的参数;不过为什么扫描速度高,会在800nm处产生高峰呢
ID:jelly98