主题:【讨论】金属样品的测试

浏览0 回复18 电梯直达
生于八零年代
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对于合金中微量成分的测试,大家一般会遇到那些问题?
背景过高导致谱线干扰;基质的记忆效应明显,影响后续其他样的测试……
大家来谈谈吧!
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比较常见的就是金属中铁元素对铅的干扰问题,这个比较普遍
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原文由 依风1986(xurunjiao5339) 发表:
比较常见的就是金属中铁元素对铅的干扰问题,这个比较普遍
金属基质谱线多,背景大时谱线的强度也大,经常会影响此谱线附近的待测元素的谱线。铜对铅见过很多。
秋月芙蓉
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千层峰
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依风1986
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原文由 秋月芙蓉(ljhciq) 发表:
不知道用标准加入法能否完善之
可能不 一定能解决,谱线的干扰
依风1986
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原文由 千层峰(jxyan) 发表:
如果是PE的,试试msf
MSF与FACT还是有区别的!
千层峰
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原文由依风1986(xurunjiao5339)发表:
原文由 千层峰(jxyan) 发表:
如果是PE的,试试msf
MSF与FACT还是有区别的!
是的,瓦里安的Fact与PE 的IEC类似
poursuivre
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原文由 poursuivre(shagege) 发表:
据说耶拿的谱线分辨率高一些,当然可以试试ICP-MS
TDS太高,上ICP-MS必须稀释,而且也同样污染仪器。
dmy320
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我们用加标来减少干扰,完全消除不可能的,只能尽量测准点。
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