主题:【转帖】常规X荧光分析法

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alexright
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现代XRF已发展称许多分支,除常规的波长色散XRF(WDXRF)和能力色散XRF(EDXRF)外,尚有全反射XRF(TXRF)、同步辐射XRF(SXRF)、偏振XRF、粒子激发XRF(PIXE)等。
常规X荧光分析法
常规XRF包括WDXRF和EDXRF,其分析机理可概述如下:以X光管作为初级射线源、样品中元素的内部电子被高强度的x射线激发,产生代表各元素特征的x荧光。这种包含多种波长的 X荧光经分光后称为各条独立的光谱线,只要测出这些谱线的波长,即可进行定性分析。测得谱线的强度,并与已知的标样强度进行比较,即可以进行定量分析。
WDXRF和EDXRF在定性、定量分析的原理、制样技术及应用等方面有共同之处。不同之点在于WDXRF是用分析晶体作为分光装置,按照波长顺序进行分离,而EDXRF是以脉冲高度分析器作为分光装置,按照光子能量的大小进行分离。WDXRF是目前应用得最广泛的一种分析方法 。
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