主题:ICP-AES的谱图分析

浏览0 回复24 电梯直达
tzl75
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大家是如何分析ICP-AES的谱图,哈哈,就是你从谱图上能看到什么信息了,这些信息说明了什么问题
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ppccxx
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renzhihai
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TAS986
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发射光谱两大用途:定性和定量分析。
从你得到的谱图上就可以进行分析,对照谱图库可以分析含有什么元素,
对照谱线的强度,你可以得到该元素含量是多少!
tzl75
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原文由 renzhihai 发表:
好多的,你说你想要什么吧????


把你知道的都说出来,因为在ICP-AES分析中谱图分析也是很重要的一部分,想让他成为一个专题,以供大家接见,我正在整理相关资料
CHNOS-789
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1.可以表征该谱线强度,信背比,干扰.
2.可以表征定性,定量的重要数据.
3.测试方法的准确程度.
.......好多啊,反正做试验的过程就是看谱图的过程.
tzl75
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tzl75
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这个是0.50PPM Ag的两个谱图,大家说说从上面能看到什么信息



tzl75
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ppccxx
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图太小了看不清楚
第一个图还可以
第二个基体干扰较严重
第三个看不到图
tzl75
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0.50PPMAg的两个谱图是在同一波长,不同级次下同时测定出来的,第一个是1级,峰搜索范围为0.08nm第二个是2级的,峰搜索范围为0.04nm,从发射强度看2的发射强度有所降低,同时背景强度增大了1倍多,也有其他谱线的干扰,再看看SBR,别小瞧这个东西,SBR在分析中很重要的,假如再分析中遇到要测定低含量的元素,而其谱图有点和2一样,或者比2的光谱重叠更厉害,那就要考虑采用IEC了,用校正因子来解决这个问题。
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