原文由 zhy1005 发表:
原文由 shangdb 发表:
ICP光谱仪分为顺序型与同时型。同时型是将顺序、同时系统整合在一起,并使用固态检测器的光谱仪。
修改一下,ICP光谱仪分为顺序型,同时型,和顺序同时结合型,以及固态检测器型
对于您的回应,不甚感激,我想谈一下自已的看法:
首先,在ICP-AES中,所谓同时与顺序整合型即是指"多道",且"多道"与"同时"是
等价的光谱术语,这似乎是约定俗成,我想对于每一个搞ICP-AES的分析工作者,
恐怕不会不知道.
其次,你所谓的同时与顺序整合型,也即是我上面提及的多道同时接收与单道顺
序扫描的转换.当然了,多道同时接收测量通道是固定的,但如果在分析中,我们
在ICP-AES光谱软件中只设置一个接收通道,那么,此时的多道同时接收也就转换
成单道顺序扫描型.故我想你我之所对此产生歧义,是由于对于"转换"一词的理
解不同而造成的.你若从事过质谱同位素分析的话,并且在同位素软件中设置过
测量通道的话,想必你一定会对"转换"一词有更加深刻的了解,同时你会发现,磁
式同位素质谱仪与ICP-AES是多么的相似!
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电离方式:
在磁式同位素质谱计中,是靠灯丝发射的电子,表面电离,辉光放电或激光使之电
离,而在ICP-AES中,则是通过电感耦合效应产生高温使之电离.
分离方式:
在磁式同位素质谱计中,是通过质量分析器从而使不同的M/Z质荷比得已分离,而
在ICP-AES 中,则是通过光栅或其它分光系统如Fabry-Petrot干涉仪,从而使不
同的特征谱线得已分离.
分辨率:
在磁式同位素质谱计中,分辨率的公式:R=M/deltaM,(其中delta代表微小变化的
意思),体现在同位素质谱计中,即是它所对应的磁场值范围的宽窄,在而在ICP-
AES中,分辨率是公式是:R=V/ deltaV,(其中delta代表微小变化的意思,由于波
长无法用希腊字母表示,故用V代表波长频率),它的分辨率通常是通过光栅的槽
数所体现.
另外,在磁式同位素质谱计中,磁场值的选择是通过磁流调节器进行的,而在ICP-
AES中,波长的选则是通过步进电机带动光栅转动进行的,即MS的磁场值与ICP-
AES的波长是对应的.
检测方式:
同位素质谱计的检测接收方式可分为跳峰检测,同时接收检测及干板照相检测,
而这正对于ICP-AES中的单道顺序扫描,多道同时接收及全谱直读型.
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最后需补充一点:
由于ICP/MS通常用于同位素分析,故将它归属于质谱仪中同位素质谱家族中的一
员,ICP/MS是以ICP作为MS的"心脏"----离子源,以MS作为ICP-AES的"眼睛"----
检测器,故ICP/MS从检测原理的角度也可分为跳峰检测,同时检测及干板照相检
测三种类型.
虽接触过单道顺序扫描ICP-AES及气体同位素质谱计,很遗憾是未曾接触过ICP-
MS.真不知自已以后有没有机会也能摸一摸
ICP-MS.
若以上观点有误或需补充,还望诸位同仁不惜赐教,谢谢!