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主题：请教 生铁中 的 Si分析 和化学分析 C和S 碳硫分析仪 对不上为什么

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ffavo
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发表于：2005/03/25 21:27:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
生铁中 的 Si分析与化学分析 误差比较大
  C和S 与碳硫分析仪 对不上C的差距最大，
S的分析有时候差距比较大 一般 正负2 左右
  分析标样还可以 为什么会这样
觉得和制样有关系 可研究了一阵子 不知道为什么
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2005/3/26 23:11:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我分析可能是制样导致的差距,可以多分析几个标样,看看怎样,如果标样分析不相差,只是样品分析存在差距,可以从制样过程中找原因,样品制样过程过热,也可能导致碳有差距.仅为个人看法.
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2005/4/19 21:48:00 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你用的是什么样品绘制的工作曲线？？你分析的是什么生铁？？炼钢生铁、铸铁、纯铁？？？只有说清楚了才能知道原因！！！！！！！！！！
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xuefeng1119
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2005/4/20 7:38:00 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
就我使用cs仪，在一定范围内s分析越做越高，先分析一到两个高标样再做荧光s对比可能重现性较好
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xrfsply
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2005/4/21 15:35:00 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 ffavo 发表:
生铁中 的 Si分析与化学分析 误差比较大
  C和S 与碳硫分析仪 对不上C的差距最大，
S的分析有时候差距比较大 一般 正负2 左右
  分析标样还可以 为什么会这样
觉得和制样有关系 可研究了一阵子 不知道为什么
建议用仪器制造商提供的人工晶体分析Si（如果有的话）；通常，XRF分析 C和S没有碳硫分析仪准确。
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liuxixiang
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2005/4/21 20:29:00 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
主要是基体影响造成的。要采用与被测样品基体相同、含量接近的标准物质进行校正，予以克服。
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xrfsply
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2005/4/22 10:20:00 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
有道理。
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blh
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2006/1/17 14:14:00 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我个人意见:碳分析不是荧光强项,大偏差正常;其它元素分析时必须考虑制样问题,保持分析样品与建立曲线时一致.
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wangdejia
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2006/1/19 9:35:00 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
C用荧光肯定误差较大，根据我过去的开发经验，S与CS分析仪还是比较接近的，可能你的标准曲线样与测试样基体差别较大，一般工业上要每天对曲线进行维护的！
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vnjp1133
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2006/3/9 22:41:00 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
荧光做 S，效果没有C/S仪好了
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ejian0481
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2006/3/14 22:06:00 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
分析生铁中的硅可能会出现与化学值形成系统性的偏差,这可能是和生产工艺及浇铸过程有关,可以采用数学方法进宪修正,关于碳硫,可能产生不稳定的偏差,这与制样手法,磨样力度,时间等制样条件有关,所以,一般生铁中碳硫最好不要用X荧光分析,可以用碳硫仪分析.
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