常规仪器很难将荧光做“定量”(荧光总强度?物质浓度?……),所谓相对,也需要看和谁来对。一般测量结果需要看荧光光谱仪(荧光分光光度计)是否做过光谱校正。在仪器的设计上,光谱位置由光谱仪确定,出厂时做过校正和检验,影响光谱强度的因素很多,包括光源强度和稳定性,光学系统的透反率,探测器响应度,杂散光等等。所以好的谱仪都会使用标准光光源和标准探测器对系统做标定,生成校正数据文件,在测量时,自动计算这种误差,形成相对于标准光源(探测器)的光谱响应曲线。
实际使用荧光光谱时,主要是看峰位,各峰之间强度的比较要实际情况实际分析,但是有一点,就是使用同一台经校正后的仪器,相同测试条件,同一波长下的强度是具有可比较性的。
我的理解,大家一起补充纠错。
原文由 vi2008 发表:
如题,谢谢高手们