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ID：sshlxf
行业：其他
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原文由 blueskydw 发表:原文由 sshlxf 发表:这么小啊 用电镜看更X荧光对样品的量要求比较大的.我的样品已经喷金了 再做EDS 还行不 影响大不大 我的要求很简单 就是想知道 是不是主要成分为硅质 急急急 现在找到EDS了 但有遇到此问题
原文由 sshlxf 发表:这么小啊 用电镜看更X荧光对样品的量要求比较大的.
ID：sartre
原文由 blueskydw 发表:我有一珍贵的前寒武的微体化石标本 怎样测成分才不致破坏标本
原文由 golf 发表:原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF. 但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.
原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的
原文由 blueskydw 发表:原文由 haikou95 发表:原文由 golf 发表:原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF. 但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.拜托看清楚再说，是非破坏性测量请问 大功率的波长色散XRF是不是要切片和抛光. 低功率的能量色散XRF则不需要，是非破坏测量 谢谢 诸位
原文由 haikou95 发表:原文由 golf 发表:原文由 haikou95 发表:补充一句，但要看轻元素可能不行，现在的XRF好像都是从Na开始的谁说的, 大功率的波长色散XRF从Be开始都可以的. 你说的是低功率的能量色散XRF. 但XRF是做宏观的平均成份的, 和SEM微区分析是互补的, 不能相互替代.拜托看清楚再说，是非破坏性测量
ID：haikou95
ID：blueskydw
原文由 haikou95 发表:楼主讨论了这么久，还没去实际测试一下啊。
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