主题:对10-80nm的粉体材料用什么检验

浏览0 回复18 电梯直达
shxie
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原文由 tzl75 发表:
谢谢,不知道你做麻烦不,我这个是个实验样品,主要看大体的实验方向是否正确,不是要求那么严格的,就一个样品,能不能短信给我你的联系方式,我的QQ:412699770

已经回信了,呵呵。
shxie
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原文由 shxie 发表:
已经回信了,呵呵。

不好意思,机器停顿,发了两遍。
anyway,不客气:)
xlbmcr
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10-80nm的粉体材料,若做粒度检测,最好先用有机试剂分散在铜台上,如果它不导电,需喷金,然后用场发射SEM观察照相,根据照片,估计颗粒的粒度,并且看颗粒的聚集状态。如果,颗粒分散好,则可选择激光动态光散射法测量。不过纳米材料粉体一般都聚集严重,很难用粒度仪测量。所以,目前,用FSEM照相,估计颗粒的粒度是行之有效的。
carlgu
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请问一下各位,做这种实验需要的云母或者石墨基片哪里可以买到?
谢谢了!
shxie
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原文由 carlgu 发表:
请问一下各位,做这种实验需要的云母或者石墨基片哪里可以买到?
谢谢了!

采购交流版有两个卖耗材的,去看看吧,应该都有的。
ppccxx
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有几百分好象已经足够用了.
比较郁闷的是,隔个半个钟头上来都没发现有什么新帖,有的都是比较陌生的,可能跟自己懂的东西太少有关系吧.
shxie
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原文由 ppccxx 发表:
有几百分好象已经足够用了.
比较郁闷的是,隔个半个钟头上来都没发现有什么新帖,有的都是比较陌生的,可能跟自己懂的东西太少有关系吧.

恭喜你,已经被这里套牢了,哈哈。
分数到100分一般就够用了,再多也是个标志罢了。
mypig12
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说得好,
有针对性。

原文由 spm2004 发表:
激光粒度做100nm以下就很不清楚了
这是其自身的限制
对于电镜来说做几十个nm也比较吃力
而AFM却能轻而易举的做到
但是要分清楚仪器的应用
对于激光粒度来说,已经很广泛的应用于粉体检测了
主要是由于其检测的范围比较大
对产品来说检验结果具有代表性
电镜可以连续变倍
分辨率比激光粒度要高而观察范围比AFM大而灵活
而AFM的优势是具有超高的分辨率
但是其检测范围很小
目前国内外最大的扫描范围一般是100um
对于工业产品来说结果不具有代表性
而在研究领域应用比较广泛
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