主题:【求助】XRD能够测量多厚的样品

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yt_compaq
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我想知道XRD能够测量最厚为多厚的样品,我的样品是一层一层的包裹起来的,我想知道如果外层的物质是否在比较厚的情况下会掩盖内层的物质,而导致内层的物质不会被测出来,谢谢大家先。
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它制样的器皿凹槽就几个毫米,测试厚度也就最多1mm。
XRD
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需要根据掠射角、波长、样品组成来计算,一般来说,在低角度只有几个微米,而高角度可能达到100-150微米。
白水山石
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如果用低于临界角的角度入射的话只有几个纳米,这方面的文献有很多.在高于临界角的情况下入射深度会随入射角的增加面增加,但也只有几个mm,而且这个深度还与你所表征的材料有关.
dnhsk
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做xrd时,样品至少要有2微米的厚度(不同样品有所不同),这表明如果样品太薄就会穿透过去,所以一般来说2微米以下的包覆层是不会阻挡下面样品信号的。
4831
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guanjun19860820
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白水山石
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原文由 yt_compaq 发表:
我想知道XRD能够测量最厚为多厚的样品,我的样品是一层一层的包裹起来的,我想知道如果外层的物质是否在比较厚的情况下会掩盖内层的物质,而导致内层的物质不会被测出来,谢谢大家先。


入射角是一个原因,还有样品组成也是一个因素,含重元素的入射深度就浅,而轻元素就深.光源的功率高,深度就深.
lp1113
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原文由 tianzhen 发表:
原文由 yt_compaq 发表:
我想知道XRD能够测量最厚为多厚的样品,我的样品是一层一层的包裹起来的,我想知道如果外层的物质是否在比较厚的情况下会掩盖内层的物质,而导致内层的物质不会被测出来,谢谢大家先。


入射角是一个原因,还有样品组成也是一个因素,含重元素的入射深度就浅,而轻元素就深.光源的功率高,深度就深.

楼上的分析比较全面,同意!
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