主题：【求助】关于检测限的问题

我觉的是方法的检出限吧，基线噪音的三倍

我刚查到一些关于检测限计算的资料，但是我有不明白处，请大家讨论一下，空白标准偏差是怎么计算的？

检测下限的定义比较混乱，有人认为检测下限是方法能检出的最小含量（或最低浓度），计算方法也不一致；仪器制造厂商认为应该用仪器的噪声水平表示检测下限；有人认为用分析空白表示痕量分析的检测下限更为合理等等。
美国国家标准局有关方法，将检测下限分为以下三种类型：
1.        仪器检测下限
即相对于背景，仪器检测的可靠的最小信号，通常用信噪比来表示， 2N 或 3N 值定义为仪器的检测下限。
2.        方法检测下限（ MDL ）
即某种分析方法所能检测的最小浓度，也即方法的最小检测浓度。通常用外推法可求得方法的检测下限，其方法如下：
在标准溶液低浓度范围内，选择三个浓度，每一个浓度水平上分别重复测定，求出每个浓度水平的标准偏差 S1 、 S2 、 S3 。用线性回归法作出回归线，然后把回归线延长，外推至与终坐标相交，求得 S0 ，定义 3 S0 为方法的检测下限。其中， S0 为浓度为零时的空白样品的标准偏差。 MDL  ＝  3 S0  。
3.        样品检测下限
即相对于空白可检测的最小样品含量，也就是样品最低检测浓度。定义样品检测下限为三倍空白标准偏差，即 3σ 空。
4.        相互关系
仪器检测下限与方法检测下限这两个概念，在选择仪器和方法时，是重要的参数。
样品检测下限不仅与方法检测下限有关，而且与空白样品中空白含量以及空白波动情况有关，只有当空白含量等于 0 ，样品检测下限等于方法检测下限，然而空白含量往往不等于 0 。
样品检测下限  ＝  方法检测下限  ＋  空白含量
因此，方法检测下限由外推法求得，可能是很低的浓度或含量，但由于空白含量的存在以及空白波动的存在，样品检测下限可能要比方法检测下限大得多。
在实际使用过程中，样品检测下限要比方法检测下限要有意义得多。当被测样品种类变化时，测定所用的试剂和环境变化时，即使用同一分析方法，样品检测下限可能要相差很大。
5.        定量检测下限
美国国家标准局定义 10 倍空白标准偏差为定量检测下限，即 10σ 空。有关痕量分析中报告数据的准则，参见下表。
报告数据的准则
分析物浓度          可靠性范围
＜ 3σ 空          可疑检测范围（不能接受）
3σ 空          样品检测下限（定性检出）
3σ 空  ~ 10σ 空          半定量
10σ 空          定量检测下限
＞ 10σ 空          定量范围

MDL是要加空白样品进去的,根据测试要求选择具有代表性的空白样品,不同的空白样品做出来的MDL是不一样的,我们做的是PHTH,选的是TIP,如果用PVC做的结果肯定不一样,我们的具体方法是:
1:预估MDL,做7次试剂空白,计算标准偏差S1,estMDL=3S1
2:选择一个大概是estMDL的一到五倍的浓度,Spike到带空白样品的溶液里,读7次(分3天),然后计算标准偏差S2,那MDL=3.14XS2
3:用该浓度计算回收率在50%-150%以内,信噪比大于3才可以
另外,MDL要小于10倍Spike浓度