主题:【求助】3C-SiC的HRTEM照片解析

浏览0 回复12 电梯直达
comet-2008
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样品中有多余的C,Raman看出存在严重的Stacking Faults现象;TEM样品是用FIB切后,又减薄的;
  我不明白为什么图中有的地方晶格很清晰,有的地方很模?可能原因是什么呢?样品太厚,非晶区还是Stacking Faults原因呢?
先谢谢了

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tygk98
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comet-2008
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thank you, that might be one reason; but I realized that it looks like FIB process.
avease100
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iamikaruk
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对图像做下FFT,我觉得一是带轴不正,二是有非晶影响
comet-2008
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对不起,怎么判断带轴不正呢?在操作过程中怎么避免呢?非晶也有可能,是在离子减薄的时候造成的。
iamikaruk
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看电子衍射判断带轴是否正。非晶可以尝试用低电压离子清洗一下。
天黑请闭眼
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原文由 comet-2008 发表:
对不起,怎么判断带轴不正呢?在操作过程中怎么避免呢?非晶也有可能,是在离子减薄的时候造成的。


我也觉得是带轴不正,一般带轴正的话,能看到两维的晶格条纹。
comet-2008
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comet-2008
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FFT转换后斑点少并且模糊,不是规则的SiC晶体衍射图,估计“iamikaruk”和您的说话一致
iamikaruk
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原文由 comet-2008 发表:
既然是非晶了,用低压等离子清洗目的是什么呢?

能够去除样品表面非晶
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